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成都中冷低溫科技有限公司
產地 | 國產 |
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BHAST(偏壓)加速老化試驗箱,評估系統,絕緣電阻劣化評估系統是一種信賴性試驗設備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓,經過長時間的測試(1~1000小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生,并記錄電阻值變化狀況,故又叫做CAF試驗,絕緣阻力電阻試驗,我們將其統稱為絕緣劣化試驗,可進行BHAST試驗。
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BHAST(偏壓)加速老化試驗箱
評估系統,絕緣電阻劣化評估系統是一種信賴性試驗設備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓,經過長時間的測試(1~1000小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生,并記錄電阻值變化狀況,故又叫做CAF試驗,絕緣阻力電阻試驗,我們將其統稱為絕緣劣化試驗,可進行BHAST試驗。
特點
·高機能:采用驅動計測, 測試時焊接工序大幅減少
·軟件設計簡單明了,直觀易操作
·遠程監控功能,可監控試驗過程。
·便利性高:構造裝著脫落式、 易進行保養交換。可同時試驗停 止等聯動裝置功能,系統構成靈活。
·測試自檢功能:點檢、校正方便。
·設計精巧,不受場所限制,易移動。
·可靠性高:配有CF卡,以防設備故障數據丟失。以UPS作為系統的支撐,確保試驗的安全繼續進行。
用于評估非氣密性封裝IC器件(固態設備)在高溫高濕條件下的運行可靠性,對芯片、半導體等其他元器件進行溫濕度(偏壓)高加速應力壽命老化試驗。
應用領域: PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件、車規級芯片
BHAST(偏壓)加速老化試驗箱
技術規格
類型 500V *1 1000V
通道數 32通道/64通(可選)
工作時間 1~9999小時
偏置電壓 -100~+500VDC -100~+1000VDC
記性反轉 具備
共負極測試(可選) 具備
CAF測試(可選) 具備
測試電壓 1.0-99.9VDC (0.01V 步進) 100-500VDC (0.1V 步進) 1.0-99.9VDC (0.01V 步進) 100-1000VDC (0.1V 步進)
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主營產品:高低溫沖擊氣流儀,接觸式冷熱沖擊機,高低溫卡盤,高低溫測試臺,高壓加速老化試驗機,高低溫試驗箱,HAST,氣體制冷機
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