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PJ80半導體檢查顯微鏡

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更新時間：2024-09-17 08:18:00瀏覽次數：177次

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產品簡介

PJ80半導體檢查顯微鏡一、儀器簡介：1、物鏡轉盤等采用電動切換模式，操作更加方便快捷

詳細介紹

PJ80半導體檢查顯微鏡

一、儀器簡介：

1、物鏡轉盤等采用電動切換模式，操作更加方便快捷。配置 8寸超大移動平臺，為半導體、FPD 檢測提供的應用環境?？芍С?nbsp;200mm 晶圓及14 英寸液晶面板的檢查。

2、顯微鏡采用長工作距離復消色差APO物鏡， 2X/NA0.06/WD34, 5X/NA0.15/WD45, 10X/NA0.3/WD34, 20X/NA0.3/WD31（可選50X物鏡NA0.45,WD20.1和100X物鏡NA0.80,WD6）。超長的工作距離帶來更自由的操作空間。特別適合半導體探針，點墨，擦拭，清潔等工站使用。

3、采用全新LED照明系統和光學系統，照明均勻，成像清晰。突破性的大金相機架設計，可承載8英寸超大工作平臺，平臺面積525mmX330mm，采用了離合器驅動的手動XY載物臺,移動行程210*210mm。