清析技術研究院可提供球差電鏡測試相關的測試檢測服務，可出具備CMA/CNAS資質的檢測報告，是專業的第三方檢測機構。詳情可聯系我們進行咨詢，關于球差電鏡測試的部分內容介紹如下：
球差電鏡測試周期是多久？
到樣后7-10個工作日可出具檢測報告（可加急），根據樣品及其檢測項目/方法會有所變動，具體需咨詢工程師。
球差電鏡的分類
球差透射電鏡：用球差校正裝置扮演凹透鏡修正球差的透射電鏡。
雙球差校正TEM：在一臺TEM上同時安裝兩個校正器，同時校正匯聚束（Probe）和成像（Image）。
由于TEM分為普通的TEM和用于精細結構成像的STEM，故球差電鏡也可分為AC-TEM（球差校正器安裝在物鏡位置）和AC-STEM（球差校正裝置安裝在聚光鏡位置）。
球差電鏡可以做的測試工作
（1）TEM模式：
低倍形貌像、高分辨像、衍射、會聚束衍射、納米束衍射，EFTEM（配GIF系統），高分辨圖像透射束和衍射束的相干像，襯度與焦聚有關，如果要解析原子結構像，樣品要求比較薄，現在用戶使用不多。
（2）STEM模式：
該模式下，可以使用各種明場和暗場探頭收集各種圖像。收集圖像種類有HADDF/LADDF/BF/ABF（JEOL），STEM對結構的表征更加細致。STEM和常規TEM一樣也分明場和暗場，但STEM常常和HAADF（一種高角環狀暗場探測器）連用以獲得材料的微區結構及元素分布信息。它有優勢得到的是原子結構像，像的襯度與原子序數有關，用戶處理數據簡單。EDS和EELS線掃描和面掃描都需要在此模式下進行。
（3）Mapping（EDS/EDX）：
用于獲得合金、納米管、殼體材料等的元素分布，進而輔助物相鑒定或結構分析等，能量分辨率130ev，B之后都可以測，一般Na之后會比較準。
（4）EELS（電子能量損失譜）：
利用入射電子引起材料表面電子電離、價帶電子激發、震蕩等，發生非彈性散射，用損失的能量來獲取表面原子的物理和化學信息的方法。通過電子能量損失譜(EELS)和X射線能譜儀(EDS)可以獲得樣品的化學信息，從而替換結構信息。能量分辨率0.7ev，理論上Li之后的元素EELS都能夠測試。
（5）HRTEM（高分辨像）：
用來觀測晶體內部結構、原子排布以及位錯、孿晶等精細結構。高分辨像是相位襯度像，是所有參加成像的衍射束與透射束因相位差而形成的干涉圖像。
球差電鏡測試流程是怎樣？
1、聯系/咨詢工程師，詳細溝通了解檢測需求；
2、工程師根據檢測項目及檢測需求進行報價；
3、雙方確定簽訂合同及保密協議；
4、寄樣/取樣，開始檢測；
5、完成檢測，出具檢測報告，進行后期服務；
清析研究院服務范圍和優勢有哪些？
1、為公司企業、高等院校、科研單位、事業單位、醫院、律師事務所以及個人客戶等提供專業技術服務。
2、具備專業的CMA/CNAS資質認證，檢測資質齊全，為客戶提供專業的咨詢與服務。
3、實驗室儀器設備種類齊全，保證測試數據準確可靠；
4、擁有強大的檢測專家團隊，全國各地多家分支機構；
5、在線一對一服務流程，根據客戶需求制定特色檢測方案和解決辦法；
如有相關檢測需求歡迎通過在線咨詢，微信咨詢，熱線，預約檢測留言等方式進行咨詢，實驗室工程師將會一對一為您詳細解答。
