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德恩斯儀器科技（無錫）有限公司
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產品簡介：X熒光光譜儀(真空型)配置真空測試系統以及SDD（硅漂移）探測器，元素測試范圍廣、檢出限低、數據穩定性好。廣泛應用于電子、電器、塑膠塑料、五金、玩具、包裝印刷以及產品等公司內部進行質量把控。適用于ROHS檢測、鹵素測試、玩具重金屬檢測和合金元素分析等各領域使用。探測器美國Amptek SDD探測器，高速脈沖分析系統
X熒光光譜儀(真空型)配置真空測試系統以及SDD（硅漂移）探測器，元素測試范圍廣、檢出限低、數據穩定性好。
廣泛應用于電子、電器、塑膠塑料、五金、玩具、包裝印刷以及產品等公司內部進行質量把控。
適用于ROHS檢測、鹵素測試、玩具重金屬檢測和合金元素分析等各領域使用。
| 探測器 | 美國Amptek SDD探測器，高速脈沖分析系統 |
| 高壓電源 | 美國Spellman (50kv/MA) |
| X射線管 | 新型X光管 |
| 能量分辨率 | 140±5ev |
| 元素分析范圍 | 鈉（Na）到鈾（U） |
| 分析含量 | 1ppm到99.99% |
| 測量時間 | 60—300s |
| 交流220v供電設備 | 1KVA交流凈化穩壓電源 |
| 工作溫度 | 10-30°C |
| 測量條件 | 大氣環境 |
合金（如不銹鋼、銅合金、鋁合金等合金）所含元素含量分析（如Cu、Zn、Pb、Sn、Fe、Ni、Mn、Sb、Al、Si、Cr、Mo、Co、Ti、V等元素）。
不銹鋼元素含量分析
銅合金元素含量分析
鋁合金元素含量分析
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