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TP200

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更新時(shí)間：2025-01-02 09:26:47瀏覽次數(shù)：32次

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

詳細(xì)介紹

說(shuō)明：
關(guān)于TP200
TP200系統(tǒng)組件包括：
TP200或TP200B測(cè)頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動(dòng)公差）
TP200測(cè)針模塊 — 選擇固定超程測(cè)力：SF（標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力）或LF（低測(cè)力）
PI 200測(cè)頭接口
SCR200測(cè)針交換架
還有一種EO模塊（長(zhǎng)超程），超程測(cè)力與SF相同，但工作范圍更大，并在測(cè)頭Z軸方向提供保護(hù)。
頂部特性與優(yōu)點(diǎn)
應(yīng)變片技術(shù)具有的重復(fù)性和精確的三維輪廓測(cè)量
零復(fù)位誤差
無(wú)各向同性影響
六向測(cè)量能力
測(cè)針測(cè)量距離達(dá)100 mm（GF測(cè)針）
快速測(cè)頭模塊交換，無(wú)需重新標(biāo)定測(cè)尖
壽命 >1 000萬(wàn)次觸發(fā)
頂部TP200 / TP200B測(cè)頭本體
TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和精確的三維輪廓測(cè)量，即使配用長(zhǎng)測(cè)針時(shí)也不例外。
傳感器技術(shù)提供亞微米級(jí)的重復(fù)性，并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測(cè)頭存在的各向異性問(wèn)題。測(cè)頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數(shù)百萬(wàn)次觸發(fā)中的可靠操作。
TP200B采用的技術(shù)與TP200相同，但允許更高的振動(dòng)公差。這有助于克服因坐標(biāo)測(cè)量機(jī)傳導(dǎo)振動(dòng)或在移動(dòng)速度很高的情況下使用長(zhǎng)測(cè)針?biāo)l(fā)的誤觸發(fā)問(wèn)題。
請(qǐng)注意：我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄/星形測(cè)針。