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深圳市金檢時代科技有限公司
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SE-PDR01 離線式工業DR
SE-PDR01離線式工業DR采用自主研發的碳納米管X光管以及高分辨率平板探測器，能夠快速獲取優質的二維檢測圖像。分辨率可達到2.5μm，輕松勝任各種物體的尺寸和缺陷檢測需求。廣泛應用于新產品研發及質量抽檢、失效分析。
產品優勢
高光子效率碳納米管一體化X射線源
支持多角度2.5D檢測(可升級為3D)
可提供定制化軟件功能
一鍵獲取高分辨率的圖像
應用領域
SMT制程bga缺陷檢測
微型發光二極管芯片/芯片檢測
Pcb內層尺寸和缺陷檢測
線鍵合缺陷檢測
IGBT元件缺陷檢測
材料分析
電子連接器
系統規格
系統參數
灰度等級：14/16位
系統分辨率：2.5μm.
標準外形尺寸：1454 x 1360 x 1785 mm
整體重量：1000公斤
載物臺尺寸：510 x 440 mm
傾斜角度：60°
探測器
探測器類型：數字平板探測器
像素尺寸：49.5μm(可選配更高級別)
像素數量：1300x1152(可選配更高級別)
成像面積：64x57毫米(可選配更高級別)
X射線源
工作電壓：90~150千伏
工作電流：10~150μA
焦點尺寸：3~15μm(可選)
光管類型：閉管
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