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深圳市鼎極天電子有限公司
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供應美國博曼臺式X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀智能的緊湊式設計使得分析各種各樣的應用變得更方便，在合理的價格范圍內顯著提升您的鍍層產品質量控制。
供應美國博曼臺式X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀智能的緊湊式設計使得分析各種各樣的應用變得更方便，在合理的價格范圍內顯著提升您的鍍層產品質量控制。
美國博曼（Bowman）BA100 臺式X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀-為您提供高精度、快速簡便的鍍層厚度測量、元素分析，以及電鍍液分析。
美國博曼（Bowman）分析儀器即使在客戶遇到zui嚴格的測試要求時也能夠實現快速、方便、高效的XRF分析效果。
供應美國博曼臺式X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀功能
樣品觀察系統高分辨、彩色、實時CCD觀察系統，標準放大倍數為30倍。50倍和100倍觀察系統任選。激光輔助光自動對焦功能可變焦距控制功能和固定焦距控制功能
計算機系統配置IBM計算機：1.6G奔騰IV處理器，256M內存，1.44M軟驅，40G硬盤，CD-ROM，鼠標，鍵盤，17寸彩顯，56K調制解調器。惠普或愛普生彩色噴墨打印機。
分析應用軟件操作系統：Windows2000中文平臺中文分析軟件包：SmartLinkFP軟件包
供應美國博曼臺式X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀主要特點
性能與可操作性的*化
緊湊式設計，改善效率和精度
高分辨半導體固態探測器（Si-Pin），提高穩定性和靈敏度
更短的預熱時間，更長壽命的光管
多種規格一次濾波器和準直器
可變焦距適應復雜樣品的測量需求
模塊化設計，方便維修、維護
簡單的設計、強大的分析能力
快速、無損的分析
成份分析zui多可達25種元素
同時可zui多分析5層
基于基本參數法的鍍層和成份分析方法
僅需一根USB線與電腦連接
快捷的面板控制按鈕
占用空間小、輕量化設計
直觀的用戶界面
zui大的分析靈活性，減少用戶出錯機會
基于Net framework框架的Xralizer軟件
直觀的圖標引導用戶界面
強大的定性、無標樣分析功能
功能強大的標準片庫
用于快速分析的可定制快捷鍵
靈活的數據顯示與導出
強大的報告編輯生成
供應美國博曼臺式X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀技術參數
項目名稱 | 具體描述 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
X射線激發系統 | ·垂直下照式X射線光學系統 ·50W（50kV，1.0mA）空冷式微聚焦型鎢W靶X射線管 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
準直器系統 | ·單準直器組件； ·多準直器自動控制組件：zui多可同時裝配6種規格的準直器 ·園形、正方形、矩形和多種規格尺寸準直器任選（紅色為常用的）：
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測量斑點尺寸 | 在12.7mm聚焦距離時，zui小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm（使用0.025 x 0.05 mm<即1x2mil>準直器） | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
樣品室 | 開槽式樣品室，測量大型平板樣品，如尺寸大于儀器寬度的線路板 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
樣 品 臺 |
固定樣品臺 ·Z軸自動控制，移動行程：43mm （1.7"），XY軸手動控制 ·zui大樣品高度33mm ·儀器外形尺寸（寬×深×高）：407×770×305mm（16×30.3×12"） | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
加深樣品臺 ·Z軸自動控制，移動行程：43mm （1.7"），XY軸手動控制 ·zui大樣品高度160mm ·樣品倉有4個位置卡槽，相鄰卡槽垂直間距25.4mm，樣品臺支架可放置在不同位置的卡槽上，可測不同高度的樣品 ·樣品倉內部尺寸（寬×深×高）：279×508×152mm（11×20×6”） ·儀器外形尺寸（寬×深×高）：407×770×400mm（16×30.3×15.7"） ·自定義樣品臺：依據客戶要求提供更高的樣品臺，滿足高度＞160mm的樣品測量，倉內設置多個位置卡槽，相鄰卡槽垂直間距25.4mm
自動樣品臺 ·Z軸自動控制，移動行程：43mm（1.7"） ·XY軸自動控制，樣品臺移動行程：178×178mm（7x7”） ·zui大樣品高度33mm ·樣品臺尺寸（寬×深）：610×560mm（24×22”） ·儀器外形尺寸（寬×深×高）：610×1037×375mm（24×40.8×14.8"） ·可提供對樣品的自動和編程控制，多點測量 ·鼠標控制樣品臺移動，精確地定位樣品測量點 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
鐳射聚焦 |
·單擊鼠標，Z軸自動掃描 ·Z軸自動聚焦到焦距12.7mm，同時將樣品圖像定焦（顯示在屏幕上） ·避免了人為操作誤差 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
樣品觀察系統 | ·高分辨率彩色CCD觀察系統，標準光學放大倍數為30倍 ·可選50倍和100倍觀察系統 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
結果輸出 | ·測量數據報告可直接打印或一鍵導出到PDF文件、Excel文件，為質量管理保留寶貴的原始資料 ·測量數據報告可包含測量數據、測量樣品圖像、各種統計分析圖表、自定義的報告模板（系統預置模板、含用戶信息的自制模板） | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
計算機系統配置 | ·IBM計算機 ·佳能彩色噴墨打印機 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
分析應用軟件 | ·操作系統：Windows XP中文平臺 ·分析軟件包：SmartLink FP軟件包 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
系統安全性 | ·Z軸保護傳感器 ·安全防射線光閘 ·樣品室門開閉傳感器 ·X射線鎖 ·X射線警示燈 ·緊急停止按鈕 ·前面板安全鈕和后面板安全鎖 ·多用戶密碼保護，只向日常操作員設定有限的*，操作界面簡單，功能受限 ·主管人員可進行系統維護
·開啟“自動鎖定”功能可以防止未*人員使用；測量結束后，超過預設的時*，軟件鎖定并要求輸入密碼 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
測量自動化功能 | 鼠標激活測量模式：“Point and Shoot” | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、重復測量模式 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
測量位置預覽功能 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
激光對焦和自動對焦功能 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
統計計算功能 | 平均值、標準偏差、相對標準偏差、zui大值、zui小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
任選軟件：統計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
數據分組、X-bar/R圖表、直方圖 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
數據庫存儲功能 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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