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儒亞科技（北京）有限公司
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CPS納米粒度分析儀CPS納米粒度分析儀是一臺穩定高速、以及高分辨的納米粒度分析儀
CPS納米粒度分析儀
CPS納米粒度分析儀是一臺穩定高速、以及高分辨的納米粒度分析儀。該儀器適合測量 0.005 um 到 75um 范圍的粒度。儀器使用高速離心圓盤將顆粒在液體介質里分離開。顆粒在的沉降穩定過程是由于液體介質中顆粒的密度梯度形成的。有別于傳統方法，通過差示離心沉降原理為顆粒的精細區分提供新的解決方案。同激光散射和顆粒計數法等方法比較，該方法有非常高的分辨率。
CPS納米粒度分析儀，有別于傳統方法，通過差示離心沉降原理為顆粒的精細區分提供新的解決方案
這種原理有以下幾點優勢：
分辨率高：
同激光散射和顆粒計數法等方法比較，該方法有非常高的分辨率。對于只有 1%的顆粒差異分布的時候，該方法測定的結果仍然有好的分離效果。您能看到的是顆粒分布本身，而不是分布顆粒的混合圖。
靈敏度高：
低至 10-8 g 的樣品就可以滿足日常分析需要。
重復性高：
樣品結果在95%的典型置信度下，連續重復分析峰的重復性小 于+/-1% 或更好。
快速、高精度數模(A/D)轉換:
可用信號分辨率（即軟件操作的對象）決定于數模轉換的過程。CPS系統使用的數模 轉換 可以實現在每秒31次取樣時保持20位以上的精 度，幾百萬分之一的誤差。
CPS高精度納米粒度儀的技術優勢
CPS納米粒度分析儀?分辨率很高，它有效地結合了高速離心沉降（24000轉/分）和激光法的優點，使得整個儀器能夠達到的分辨率，優良的靈敏度和重復性.
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