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深圳九州工業品有限公司
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具體成交價以合同協議為準
產品簡介
超高電阻量程：10E+9～10E+15Ω/□的非接觸式測量
面內多點測量功能
2-D/3-D映射圖像顯示
Windows7專用軟件
測量數據可以CSV文件格式輸出
非接觸式可不受接觸電阻影響進行測量
產品介紹
napson電阻測量儀 電阻計 熱電阻 電阻率CRN-100的介紹
napson電阻測量儀 電阻計 熱電阻 電阻率CRN-100的介紹
超高電阻量程：10E+9～10E+15Ω/□的非接觸式測量
面內多點測量功能
2-D/3-D映射圖像顯示
Windows7專用軟件
測量數據可以CSV文件格式輸出
非接觸式可不受接觸電阻影響進行測量
測量規格
測量對象
*原則上，本裝置測量范圍內的任何樣品均可測量。請聯系我們。
?超高電阻薄膜樣品（a-Si、IGZO等）
?接近絕緣的半導體材料
?導電橡膠
這樣的
測量尺寸
尺寸：最大300×400mm
厚度：最大 2mm
*可以進行尺寸對應等定制。請聯系我們。
測量范圍
10E+9 至 10E+15Ω/□
測量規格
測量對象
半導體/太陽能電池材料（硅、多晶硅、SiC等）
新材料/功能材料（碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等）
導電薄膜（金屬、ITO等）
硅基外延、 ion Injection sample
化合物半導體相關（GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等）
其他（*請聯系我們）
測量尺寸
2 至 8 英寸
（可選；12 英寸）
測量范圍
[電阻率] 1m 至 200 Ω?cm
（*所有探頭類型的總范圍/當厚度為 500um 時）
[薄層電阻] 10m 至 3k Ω/sq
（*所有探頭類型的總范圍）
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￥60000
