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DUORES Handynapson電阻測量儀 電阻計(jì) 熱電阻 電阻率
參考價(jià): 260000
訂貨量: 100臺(tái)
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • DUORES Handy 產(chǎn)品型號(hào)
  • 其他品牌 品牌
  • 經(jīng)銷商 廠商性質(zhì)
  • 深圳市 所在地

訪問次數(shù):886更新時(shí)間:2023-04-15 08:59:06

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產(chǎn)品簡介
napson電阻測量儀 電阻計(jì) 熱電阻 電阻率DUORES Handy的介紹
簡單的測量儀器,只需將樣品插入探頭之間即可測量
在電阻率/薄層電阻測量模式之間輕松切換
通過 JOG 撥盤輕松設(shè)置測量條件
*由于探頭為固定型,請(qǐng)?jiān)谫徺I前從多種類型中選擇一種。
產(chǎn)品介紹

napson電阻測量儀 電阻計(jì) 熱電阻 電阻率DUORES Handy的介紹

napson電阻測量儀 電阻計(jì) 熱電阻 電阻率DUORES Handy的介紹

產(chǎn)品特點(diǎn)

便于攜帶和測量的便攜式薄層電阻測量儀:DUORES

可根據(jù)測量對(duì)象更換兩種類型的探頭(非破壞型和接觸型)。

款可與兩種類型的探頭(非破壞型和接觸型)互換使用的便攜式薄層電阻測量儀
• 只需放置/應(yīng)用探頭即可自動(dòng)測量
• 電池連續(xù)工作時(shí)間:24 小時(shí)(*電池使用中)
顯示數(shù)據(jù)數(shù):最多 100(*從最近的數(shù)據(jù)顯示)

• 保存數(shù)據(jù)數(shù):最大50,000(*通過專用軟件顯示)
• 測量數(shù)據(jù)傳輸功能:USB-Mini
• 顯示:3種顯示單位(Ω/□、S/□、n/m [金屬膜厚度換算) ]), 4 位浮點(diǎn)數(shù) (0.000 到 9999)

* 我們也只出售主機(jī) + 非破壞型探頭,主機(jī) + 接觸式探頭。


產(chǎn)品特點(diǎn)

  • 節(jié)省空間,使用個(gè)人電腦輕松操作和數(shù)據(jù)處理

  • 非接觸式渦流法可實(shí)現(xiàn)無損傷測量

  • 探頭可拆卸和更換,因此每個(gè)量程的探頭都可以輕松更換。

  • (*可選用于第二個(gè)和后續(xù)電阻探頭)

  • 1 中心點(diǎn)測量

  • 厚度和溫度修正功能(硅晶圓)

測量規(guī)格

測量對(duì)象

半導(dǎo)體/太陽能電池材料(硅、多晶硅、SiC等)
新材料/功能材料(碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等)
導(dǎo)電薄膜(金屬、ITO等)
硅基外延、 ion Injection sample
化合物半導(dǎo)體相關(guān)(GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等)
其他(*請(qǐng)聯(lián)系我們)


測量尺寸

3 至 8 英寸,~156 x 156 毫米
(可選;2 英寸或 12 英寸,~210 x 210 毫米)

測量范圍

[電阻率] 1m 至 200 Ω?cm
(*所有探頭類型的總范圍/當(dāng)厚度為 500um 時(shí))
[薄層電阻] 10m 至 3k Ω/sq
(*所有探頭類型的總范圍)

產(chǎn)品特點(diǎn)

  • 只需觸摸手持探頭即可測量電阻

  • 在電阻率/薄層電阻測量模式之間輕松切換

  • 通過 JOG 撥盤輕松設(shè)置測量條件

  • 可互換連接器連接的電阻測量探頭支持各種電阻

  • (電阻探頭:最多可使用2+PN判斷探頭)


測量規(guī)格

測量對(duì)象

半導(dǎo)體/太陽能電池材料(硅、多晶硅、SiC等)
新材料/功能材料(碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等)
導(dǎo)電薄膜(金屬、ITO等)
硅基外延、 ion Injection sample
化合物半導(dǎo)體相關(guān)(GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等)
其他(*請(qǐng)聯(lián)系我們)

測量尺寸

不受樣品尺寸和形狀的影響(但是,大于 20 mmφ 且表面平坦的樣品)均可測量


測量范圍

[電阻率] 1m 至 200 Ω?cm
(*所有探頭類型的總范圍/當(dāng)厚度為 500um 時(shí))
[薄層電阻] 10m 至 3k Ω/sq

  • 節(jié)省空間,使用個(gè)人電腦輕松操作和數(shù)據(jù)處理

  • 非接觸式渦流法可實(shí)現(xiàn)無損傷測量

  • 探頭可拆卸和更換,因此每個(gè)量程的探頭都可以輕松更換。

  • (*可選用于第二個(gè)和后續(xù)電阻探頭)

  • 1 中心點(diǎn)測量

測量對(duì)象

半導(dǎo)體/太陽能電池材料(硅、多晶硅、SiC等)
新材料/功能材料(碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等)
導(dǎo)電薄膜(金屬、ITO等)
硅基外延、 ion Injection sample
化合物半導(dǎo)體相關(guān)(GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等)




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