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深圳九州工業品有限公司
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具體成交價以合同協議為準
產品簡介
簡單的測量儀器，只需將樣品插入探頭之間即可測量
在電阻率/薄層電阻測量模式之間輕松切換
通過 JOG 撥盤輕松設置測量條件
*由于探頭為固定型，請在購買前從多種類型中選擇一種。
產品介紹
napson電阻測量儀 電阻計 熱電阻EC-80P的介紹
napson電阻測量儀 電阻計 熱電阻EC-80P的介紹
產品特點
只需觸摸手持探頭即可測量電阻
在電阻率/薄層電阻測量模式之間輕松切換
通過 JOG 撥盤輕松設置測量條件
可互換連接器連接的電阻測量探頭支持各種電阻
（電阻探頭：最多可使用2+PN判斷探頭）
測量規格
測量對象
半導體/太陽能電池材料（硅、多晶硅、SiC等）
新材料/功能材料（碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等）
導電薄膜（金屬、ITO等）
硅基外延、 ion Injection sample
化合物半導體相關（GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等）
其他（*請聯系我們）
測量尺寸
不受樣品尺寸和形狀的影響（但是，大于 20 mmφ 且表面平坦的樣品）均可測量
測量范圍
[電阻率] 1m 至 200 Ω?cm
（*所有探頭類型的總范圍/當厚度為 500um 時）
[薄層電阻] 10m 至 3k Ω/sq
節省空間，使用個人電腦輕松操作和數據處理
非接觸式渦流法可實現無損傷測量
探頭可拆卸和更換，因此每個量程的探頭都可以輕松更換。
（*可選用于第二個和后續電阻探頭）
1 中心點測量
測量對象
半導體/太陽能電池材料（硅、多晶硅、SiC等）
新材料/功能材料（碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等）
導電薄膜（金屬、ITO等）
硅基外延、 ion Injection sample
化合物半導體相關（GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等）
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￥60000
