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深圳九州工業品有限公司
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產品簡介
簡單的測量儀器，只需將樣品插入探頭之間即可測量
在電阻率/薄層電阻測量模式之間輕松切換
通過 JOG 撥盤輕松設置測量條件
*由于探頭為固定型，請在購買前從多種類型中選擇一種。
產品介紹
napson電阻測量儀 電阻計 熱電阻EC-80的介紹
napson電阻測量儀 電阻計 熱電阻EC-80的介紹
產品特點
簡單的測量儀器，只需將樣品插入探頭之間即可測量
在電阻率/薄層電阻測量模式之間輕松切換
通過 JOG 撥盤輕松設置測量條件
*由于探頭為固定型，請在購買前從多種類型中選擇一種。
測量規格
測量對象
半導體/太陽能電池材料（硅、多晶硅、SiC等）
新材料/功能材料（碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等）
導電薄膜（金屬、ITO等）
硅基外延、 ion Injection sample
化合物半導體相關（GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等）
其他（*請聯系我們）測量尺寸
~8 英寸或 ~156x156mm
測量范圍
[電阻率] 1m 至 200Ω?cm
（*所有探頭類型的總范圍/當厚度為 500um 時）
[薄層電阻] 10m 至 3kΩ/sq
（*所有探頭類型的總范圍）*請參閱以下各探頭類型的測量范圍。
(1) 低：0.01 ～ 0.5Ω/□ (0.001 ～ 0.05Ω-cm)
(2) 中： 0.5 ～ 10Ω/□ (0.05 ～ 0.5Ω-cm)
(3) 高：10 ～ 1000Ω/square (0.5 ～ 60Ω-cm)
(4) S-High : 1000 to 3000Ω/square (60 to 200Ω-cm)
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￥60000
