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產品簡介
恒定光電流法 (CPM) 和光熱偏轉光譜法 (PDS) 可用于子帶隙光吸收系數測量。
由于可以計算缺陷密度，因此可以應用于太陽能電池薄膜的性能改進和開發
產品介紹
日本oklabCPM/PDS綜合測量裝置干擾測量OKL-CPM/PDS-500型
日本oklabCPM/PDS綜合測量裝置干擾測量OKL-CPM/PDS-500型
恒定光電流法 (CPM) 和光熱偏轉光譜法 (PDS) 可用于子帶隙光吸收系數測量。
由于可以計算缺陷密度，因此可以應用于太陽能電池薄膜的性能改進和開發
特征
使用我們的 CPM 測量方法，可以抑制干擾并計算準確的缺陷密度。
PDS 可以測量高達 0.4[eV] 的長波長
集成 CPM 和 PDS 的緊湊型經濟型
測量是全自動的，沒有麻煩
細節
我們的 CPM/PDS 組合測量設備型號 OKL-CPM/PDS-500 結構緊湊，因此可以用一臺設備測量 CPM 和 PDS。我們CPM測量的特點是采用透射光測量法，采用了排除膠片干擾影響的方法。
因此，可以計算出準確的缺陷密度。此外，PDS除了可見光之外，還有紅外光譜光柵，因此可以在長波長范圍內進行測量。安裝樣品池的工作臺配備了振動隔離功能，因為在測量過程中不需要振動。所有測量都是計算機控制的自動測量。
特征
使用我們的 CPM 測量方法，可以抑制干擾并計算準確的缺陷密度。
PDS 可以測量高達 0.4[eV] 的長波長
集成 CPM 和 PDS 的緊湊型經濟型
測量是全自動的，沒有麻煩
細節
我們的 CPM/PDS 組合測量設備型號 OKL-CPM/PDS-500 結構緊湊，因此可以用一臺設備測量 CPM 和 PDS。我們CPM測量的特點是采用透射光測量法，采用了排除膠片干擾影響的方法。
因此，可以計算出準確的缺陷密度。此外，PDS除了可見光之外，還有紅外光譜光柵，因此可以在長波長范圍內進行測量。安裝樣品池的工作臺配備了振動隔離功能，因為在測量過程中不需要振動。所有測量都是計算機控制的自動測量。
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