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深圳九州工業(yè)品有限公司
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產(chǎn)品概要
高速位移測量的版本！差分光纖位移計！
高速、高分辨率測量狹窄和深處的位移！
高速、高分辨率測量狹窄和深處的位移！
只需將探頭靠近測量點即可進行高速微位移測量。
不需要補償麻煩的工作反射。
新插件模塊ATP203！響應(yīng)能力和分辨率進一步提高。
ATW200的特點
3MHz高速響應(yīng)！非常適合分析壓電元件和高速振動現(xiàn)象！
納米級分辨率！它測量真實的位移，而不是速度，因此您不會錯過低頻下的微小位移！
配備可變低通濾波器，可實現(xiàn)最佳響應(yīng)速度和分辨率。
輕松設(shè)定！只需將其靠近工件并僅執(zhí)行一次反射率校正即可！
測量原理
ATW200是一款差動光纖位移計。我們專有的差分光纖排列 實現(xiàn)了納米級的高分辨率和 3 MHz 的高速響應(yīng)，同時抑制了待測工件反射率的影響。
如圖1所示，光纖束在測量端布置的發(fā)射光纖、接收光纖A和接收光纖B的相對側(cè)分支成三個分支。當來自光源的光傾斜入射到發(fā)射光纖時，光從測量端面射出，如圖2所示，在測量表面上反射，進入接收光纖。此時，反射光變成環(huán)形，其直徑根據(jù)測量間隙而變化。和信號PA+PB是總反射光量，差信號PB-PA根據(jù)間隙變化，如圖 4 所示。差信號除以和信號得到的信號與被測物體的反射率無關(guān)（圖5）。
應(yīng)用實例
非常適合壓電元件的振動測量、高速振動現(xiàn)象分析、鏡面旋轉(zhuǎn)體的偏轉(zhuǎn)測量、掃描探針顯微鏡的探針位移測量等。
規(guī)格
放大器單元｜插件模塊｜分辨率示例
