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目錄:廣電計量檢測集團股份有限公司>>元器件篩選及失效分析>>元器件及裝備失效分析>> 集成電路工程化量產測試,元器件失效分析 材料檢測服務
| 服務區域 | 全國 | 服務資質 | CNAS認可 |
|---|---|---|---|
| 發票 | 可提供 | 報告類型 | 中英文電子/紙質報告 |
服務范圍
集成電路工程化量產測試,元器件失效分析：集成電路：微處理器、控制器、可編程邏輯器件、存儲器系列、總線接?系列、射頻器件、放大器、AD/DA，驅動芯片、監控芯片、電源類芯片等
檢測標準
● GJB 597B-2012半導體集成電路通用規范
●GJB 2438A-2002混合集成電路通用規范
● GJB 548B-2005微電子器件試驗方法和程序
● GJB 7400-2011合格制造廠認證用半導體集成電路通用規范
● 行業規范：MIL、IEEE、JEDEC等
● 客制標準：產品?冊、詳細規范、測試方案
檢測項目
| FT工程化 | 測試方案開發與測試平臺選型； 測試程序開發：V93000、Ultraflex、J750HD、STS系列、magnum等 測試硬件設計：loadboard、changkit、socket、PCB ?程化驗證與特性參數分析 |
| FT量產 | ?次篩選 小批量量產 量產維護與良率提升 |
| 應用驗證 | 項目驗收測試 板級應用測試 |
相關資質
CNAS
服務背景
集成電路工程化量產測試,元器件失效分析：集成電路測試卡位產業鏈關鍵節點，貫穿設計、制造、封裝測試以及應用的全過程。測試在保證芯片質量，產品交付、項目驗收及推向應?具有重要作?。而芯片設計多樣化和定制化，對測試人才和技術經驗要求明顯提升，如何實現快速?程化和量產將?臨極?挑戰。
我們的優勢
廣電計量擁有一支經驗豐富的IC測試技術開發團隊，可提供各類芯片的測試方案開發、測試硬件開發、測試程序開發與調試，小批量測試、應?驗證。從?程化到量產的全流程專業定制化的?站式服務。
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