TT230涂層測厚儀概述
TT230渦流測厚儀|氧化膜測厚儀是一種超小型測量儀，它能快速、無損傷、精密地進行非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量；可廣泛用于制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域；該儀器體積小、測頭與儀器一體化，特別適用于工程現場測量。

TT230涂層測厚儀符合以下標準：

GB/T 4957-1985 渦流方法
JJG 818-93 《電渦流式測厚儀》
JB/T8393-1996磁性和渦流覆層測厚儀

TT230功能特點
采用了渦流測厚法，可無損傷地測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度
(如銅、鋁、鋅、錫等基底上的琺瑯、橡膠、油漆鍍層)
可進行零點校準及二點校準，并可用基本校準法對測頭的系統誤差進行修正
具有兩種測量方式：連續測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE)
具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
具有刪除功能：對測量中出現的單個可疑數據進行刪除，也可刪除存貯區內的所有數據
設有五個統計量：平均值、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、測試次數(NO．)、標準偏差
具有米、英制轉換功能
具有打印功能，可打印測量值、統計值
具有欠壓指示功能
操作過程有蜂鳴聲提示
具有錯誤提示功能
具有自動關機功能
TT230技術參數
測頭類型：N
測量原理：電渦流
測量范圍： 0-1250um | 0-40um(銅上鍍鉻)
低限分辨力：1µm(10um以下為0.1um)
探頭連接方式：一體化
示值誤差：
1.一點校準(um)：±[3%H+1.5]
2.兩點校準(um)：±[(1%~3%)H+1.5]
測量條件：
1.zui小曲率半徑(mm)：凸3 | 凹10
2.基體zui小面積的直徑(mm)：ф5
3.zui小臨界厚度(mm)：0.3
溫濕度：0~40℃ | 20%RH～90%RH
統計功能：平均值、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、測試次數(NO．)、標準偏差
工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
測量方式：連續測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE)
上下限設置：無
存儲能力：15個測量值
打印/連接計算機：可選配打印機/能連接電腦
關機方式：自動
電源：二節3.6V鎳鎘電池
外形尺寸：150×55.5×23mm
重量：150g
TT230基本配置

主機
鋁基體
標準片一套
充電器
使用說明書