產品介紹:
SD-300i用于測定單晶材料的表面缺陷,適用于科研、工業生產等需求。該儀器還是一臺半自動高精度定向儀,實現了缺陷和定向雙功能。
產品特點:
■ 缺陷和定向雙功能
■ 配有射線窗口電磁光閘和可靠的射線防護罩,確保安全使用
■ 配有射線窗口電磁光閘和可靠的射線防護罩,確保安全使用
■ 表格和曲線的形式顯示,一目了然
■ 速度快,重復性好
■ 效率高,數據實時處理
技術參數:
■ 測試時間:1-2分鐘
■ 重復性精度:≤±5″。
■ 測角精度為±15″
■ 測角精度為±15″
■ zui小讀數1″
典型客戶:
中國臺灣及國內藍寶石及半導體客戶廣泛應用。