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日立分析儀器手持XRF光譜儀X-MET8000系列

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更新時間：2024-05-04 09:50:19瀏覽次數：184次

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產品簡介

日立分析儀器手持XRF光譜儀X-MET8000系列

詳細介紹

手持式 XRF合金分析儀X-MET8000將日立儀器的高性能 X 光管和大面積硅漂移探測器（SDD）地耦合在一起，其速度和性能幾乎可滿足市場上所有的金屬分析應用需求。

X-MET8000 手持式合金分析儀是檢驗及制造行業中，進行廢舊金屬回收、貴金屬及珠寶分析、材料可靠性鑒定（PMI）的理想工具。

X-MET8000系列有三種型號，可滿足不同的分析需求和資金預算需求
簡單的“對準即測"操作，使用方便
直觀的大圖標式用戶界面：操作員幾乎不需任何培訓
大面積4.3英寸彩色觸摸屏，即便在陽光直射下也能清晰地看到檢驗結果。操作簡單方便，戴上手套也不受影響
符合IP54 等級（相當于 NEMA 3），能夠適應的環境
加強型防護窗口（用于Expert 及 Optimum）可防止X射線管和探頭在測試小部件和尖銳物體時受損
可快速更換防護窗口：無需任何工具即可快速更換已損壞或玷污的窗口
可按客戶要求定制檢驗結果模式，以便于快速作出判斷：即顯示您所需重要信息，例如合號、元素成分、合格/不合格通知，以及元素的顯示順序
時尚精巧的設計
可選配相機，有助于準確定位測量
大量可自定義的牌號庫
預裝齊全牌號庫，并可自定義

多種型號供您選擇

X-MET8000 Smart X-MET8000 Optimum X-MET8000 Expert

用iOS應用OiConnect分享數據

用OiConnect現場分享您的X-MET測試結果

OiConnect能讓X-MET用戶即可分享測試結果，無需返回辦公室或連接電腦。

一旦在用戶iOS移動設備（電話，平板電腦）上下載OiConnect應用，它能實時抓取X-MET8000測試結果，然后通過電子郵件、短信等現場分享給同事、供應商和客戶。照片和其它有用的信息（如重量、價格、批次號和訂單細節）可以在數據發送前添加，這樣能夠加快交易完成。與其他現有的解決方案不同，這款應用無需連接電腦來生成報告或轉發數據。它只需要無線網絡或移動數據連接。

X-MET8000的廢舊金屬分析與分揀功能

X-MET8000是用于金屬回收分析的理想金屬分析儀。手持式 X 射線熒光光譜儀（XRF）可現場進行快速的合金分析與鑒定，已在廢料場上得到了廣泛應用。

X-MET8000 手持式合金分析儀的優勢：

出眾的輕元素（從Mg到S）精確分析,提供準確的牌號鑒定
具有超低的檢出限，可準確分析微量、雜質元素
快速及準確的元素分析及牌號鑒定（自帶全面牌號庫）
重量輕（1.5公斤）、外形小，符合人體工學設計，電池續航時間長達10至12小時
快速開機：數秒內完成開機并進行檢測
樣品尺寸和形狀自動補償，可準確測試直徑低至1mm的管材、桿材、線材、焊縫、緊固件、車削屑和碎屑等

X-MET8000的貴金屬及珠寶分析功能

X-MET8000 是理想的珠寶及貴金屬分析儀。手持式 X 射線熒光分析儀可對大小形狀的貴金屬物品進行無損的“對準即測"多元素分析，被廣泛用于珠寶及貴金屬測試。

X-MET8000 手持式貴金屬分析儀優勢：

無損檢測：樣品測試后無任何印記，亦不會有任何材料和價值損耗
快速而準確：較大的分析量，以利于高產量和率
超低的檢出限：可準確分析雜質和有毒元素（如 Pb 和 Cd），以確定可能存在的危害元素
簡便攜帶：X-MET8000外形小巧輕便（含電池1.5公斤），所有附件均可裝入手提箱，運輸輕松方便
堅固耐用：IP54防護等級，具有超高的防塵和防水性能；超薄窗口（用于X-MET8000 Smart）或可選保護罩（用于Optimum 和Expert），可防止探頭和X射線管在測試小部件和尖銳物體時受損