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更新時間:2023-08-31 18:22:42瀏覽次數(shù):259次
聯(lián)系我時,請告知來自 環(huán)保在線D8 ADVANCE X射線行射儀,采用創(chuàng)造性的達(dá)芬奇設(shè)計(jì),通過TWIN-TWIN光路設(shè)計(jì),成功實(shí)現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換,而無需對光。通過TWIST TUBE技術(shù),使用戶可以在1分鐘內(nèi)完成從線光源應(yīng)用到點(diǎn)光源應(yīng)用的切換,讓煩人的光路互換,重新對光等問題從此成為歷史主要功能:TWIN/TWIN 光路動態(tài)光束優(yōu)化(DBO)......
D8 ADVANCE X射線行射儀,采用創(chuàng)造性的達(dá)芬奇設(shè)計(jì),通過TWIN-TWIN光路設(shè)計(jì),成功實(shí)現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換,而無需對光。通過TWIST TUBE技術(shù),使用戶可以在1分鐘內(nèi)完成從線光源應(yīng)用到點(diǎn)光源應(yīng)用的切換,讓煩人的光路互換,重新對光等問題從此成為歷史
主要功能:
TWIN/TWIN 光路
動態(tài)光束優(yōu)化(DBO)
LYNXEYE XE-T
應(yīng)用:
物相定性分析、結(jié)晶度及非晶相含量分析、結(jié)構(gòu)精修及解析、物相定量分析、
點(diǎn)陣參數(shù)精確測量,無標(biāo)樣定量分析,微觀應(yīng)變分析,晶粒尺寸分析,原位分析。
殘余應(yīng)力,低角度介孔材料測量,織構(gòu)及ODF分析,薄膜掠入射,薄膜反射率測量。小角散射。
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