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AFT-ALP機器視覺模擬光源控制器

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更新時間:2023-02-08 09:34:37瀏覽次數:280次

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產品簡介

AFT-PL系列點光源采用聚光裝置實現了高亮度及均勻的擴散光,為反射度高的表面提供對位及表面檢查照明,如金屬表面、薄膜、晶片、膠片及玻璃等的劃傷檢查、芯片和硅晶片的破損檢測、玻璃板的表面損傷、PC母板的圖譜檢測、印刷版的圖形檢查等

詳細介紹


  AFT-PL系列點光源采用聚光裝置實現了高亮度及均勻的擴散光,為反射度高的表面提供對位及表面檢查照明,如金屬表面、薄膜、晶片、膠片及玻璃等的劃傷檢查、芯片和硅晶片的破損檢測、玻璃板的表面損傷、PC母板的圖譜檢測、印刷版的圖形檢查等。

命名規則: ①品牌:AFT ②類型:PL:點光源 ③功率:100->1W , 300->3W

④顏色:R:紅色;B:藍色;W:白色

型號和技術指標:(單位:mm)

類型 規格
型號
外形尺寸 上口 下口 功率 顏色 重量(g) 標配
控制器
特點 應用
同軸
光源
AFT-PL100 φ25*50 φ25 φ8 1W 紅(R)
白(W)
藍(B)
45 AFT-ALP2405-01 亮度可調、低溫、均衡、無閃爍,無陰影 均勻照明反光(鏡面)工作界面、金屬、玻璃光潔表面的劃傷檢查 芯片和硅晶片的破損檢測檢測玻璃板的表面損傷檢測PC母板的圖譜
AFT-PL300 φ25*50 φ25 φ8 3W 45 AFT-ALP2405-01

外形尺寸及圖片

AFT-PL外形尺寸

AFT-PL100/300

應用實例

芯片字符檢測 PCB基板MARK點檢測 定位標志檢測
點光源芯片檢測 點光源PCB檢測 點光源定位檢測
晶圓 微型芯片  
點光源晶圓 點光源微型芯片檢測  

關鍵詞:芯片
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