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深圳市云帆興燁科技有限公司
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簡要描述： LET-2000D系列 半導體動態參數測試系統擁有超寬的電壓電流測試范圍，無論是低功耗還是高功率器件都能兼容性，涵蓋了 MOSFET、IGBT 等多種主流半導體器件類型。同時，系統配備了精良的信號發生與采集模塊，可實現高速、穩定的數據傳輸與處理，為用戶提供準確、可靠的測試結果，為半導體研發生產提供可靠支持。
動態參數測試系統硬件優勢:
1. 采用高分辨率的12 bit 示波器：正確反映波形的細節，并準確計算出參數
2. 采用先發布的光隔離、高CMRR探頭系統，解決SIC/GAN的 測試難點
3. 高帶寬的電壓和電流探測，彌補一般系統對SIC/GAN的測量要求
4.可以滿足上/下管測試，避免頻繁連接探頭
5.電壓覆蓋范圍寬、并可以再次擴展
6.器件驅動設計支持SIC/GAN器件
7.系統帶寬：>400MHz
8. 系統可以定制
動態參數測試系統軟件特點：
1.測量參數齊全：開關參數、短路參數、反向恢復參數
2.支持器件類型多：單管/模塊、MOSFET、IGBT、FWD、GTR …
3.測試方式：單脈沖、多脈沖
4. 離線數據分析：既可以在線測量，也可以記錄數據離線分析
5.測試UI符合工程師的使用習慣
6.測量項目及器件支持擴展
系統參數：
● 測量電壓：標配2000V覆蓋650V,1200V,1700V器件的測試。 可升 級到10000V。
● 測量電流：標配200A，覆蓋單管、及部分模塊的測量。 可升級到6000A。
● 短路電流：2000A
● 測量參數：Vce/Vds,Ic/Id,Vgs/Vge,toff, td(off), tf(Ic),Eoff, Ton, td(on), tr(Ic), Eon, dI/dt, dv/dt, Err, Qrr, trr, Irr 等。
● 測量項目： 開關參數、短路參數、反向恢復參數、安全工作區等
● 測量器件：單管/模塊，MOSFET、IGBT、FWD、GTR…
● 系統帶寬：350MHz、500MHz、1GHz
● 測量通道：4CH
● 雙脈沖脈寬：*小20ns，150us。
● 雙脈沖數：單脈沖、2-30脈沖
● 測量依據標準：IEC60747-8 and IEC60747-9、 JEDEC JEP173
LET-2000D的應用
? 功率半導體的來料檢驗
? 功率半導體的動態參數驗證
? 實驗室的器件評估
? 實驗室的驅動設計改善
? 實驗室的PCB設計評估
? 功率半導體的生產檢驗和篩選
測試項目
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