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半導體測試系統

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更新時間：2024-02-02 12:26:02瀏覽次數：156次

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產品簡介

簡要描述： Keithley 2600系列半導體測試系統；開發和使用 MOSFET、IGBT、二管和其他大功率器件，需要全面的器件檢定，如擊穿電壓、通態電流和電容測量。

詳細介紹

Keithley 2600系列半導體測試系統
本公司5月30日11時38分報道：Keithley 2600系列半導體測試系統；（/c96719/products/d.html）

產品描述

開發和使用 MOSFET、IGBT、二管和其他大功率器件，需要全面的器件檢定，如擊穿電壓、通態電流和電容測量。 Keithley 高功率參數化波形記錄器系列的配置支持所有的設備類型和測試參數。 Keithley 參數化波形記錄器配置包括檢定工程師快速開發全面測試系統所需的一切。

型號	說明	高壓模式	大電流模式
2600-PCT-1B	低功率	200 V/10 A	200 V/10 A
2600-PCT-2B	高電流	200 V/10 A	40 V/50 A
2600-PCT-3B	高壓	3 kV/120 mA	200 V/10 A
2600-PCT-4B	高電流和高電壓	3 kV/120 mA	40 V/50 A

2600
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