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深圳市云帆興燁科技有限公司
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簡要描述： NI PXIe-4135高精度系統源測量單元；PXI源測量單元(SMU)將高精度源和測量能力與旨在減少測試時間、增加靈活性的特性相結合。這些特性包括用于構建并行SMU測試系統的高通道密度、用于小化軟件開銷的確定性硬件序列。
NI PXIe-4135高精度系統源測量單元
本公司6月1日10時58分報道：NI PXIe-4135高精度系統源測量單元；（/c96719/products/d.html）
為PXI系統提供精確的電壓或電流源以及測量功能。
PXI源測量單元(SMU)將高精度源和測量能力與旨在減少測試時間、增加靈活性的特性相結合。這些特性包括用于構建并行SMU測試系統的高通道密度、用于小化軟件開銷的確定性硬件序列以及用于快速改變設定值和采集數據的高速更新和采樣率。此外，PXI SMU靈活的采樣率和流盤能力允許您將儀器當做數字化儀使用，以捕獲瞬態行為，而數字控制循環則使您能夠調整儀器的瞬態響應。改變SMU瞬態特性的能力（稱為SourceAdapt）降低了SMU穩定時間，并且即使在高容性負載情況下，也可小化過沖和振蕩。
PXIe，±200 V，3 A，10 fA精密PXI源測量單元—PXIe-4135是一款高精度系統源測量單元(SMU)。該設備采用四象限運行模式，可提供高達20 W的直流電源，并可產生高達500 W的脈沖。結合模數轉換器技術和原生三軸連接器，該設備可以以10 fA的電流分辨率或1.8 MS/s的高速采集速率進行高精度測量。該模塊還采用了SourceAdapt技術，可根據負載的特性來調整瞬態響應，從而大限度地提高穩定性和測量精度。PXIe-4135是許多應用的理想選擇，包括集成電路(IC)、電源管理集成電路(PMIC)和射頻集成電路(RFIC)等器件以及LED和光收發器等分立元件的實驗室特性分析、制造測試、板卡測試。
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