熒光光譜儀【深圳華普通用科技有限公司(直讀光譜儀：.cn/zhiduguangpuyi) 聯系電話:,咨詢】
1. 采用世界上*新的、的偏振X射線熒光激發技術, 區別于其他X射線熒光儀, 儀器的背景, 信噪比*佳, 檢出限.
2. 采用多靶轉換技術, 對不同的分析元素采用不同的次級靶, 保證對元素周期表中Na – U的所有元素均有*佳的激發效果。其中儀器所采用的晶體靶, 由于X射線衍射的原因, 其激發強度不僅不會下降, 反而會產生單色平行X光束, 大大提高激發元素的效率。
3. 由于偏振X射線本身所具有的偏振性及單色性, 因此儀器無需選擇濾光片。避免了煩雜的濾光片的選擇, 簡化分析操作, 減少了X光的損失, 節約了分析時間。可實現真正意義上的Na-U的全分析。
4. XEPOS型儀器配有無需液態氮冷卻的Si計數器, 計數率高達120,000pcs. 可有效防止計數溢出。 不會產生Si(Li)計數器所發生的在無需液氮冷卻的情況下, 所產生的分辨率降低, 背景升高, 信噪比變差的情況。
5. 儀器采用的方式于世界上*強的X射線發生源－同步加速器所采用的光源機制相似，X光極為純凈，減少了雜散光對分析結果的影響。
6. 儀器可選擇配置 TURBOQUANT快速定性, 半定量(定量)程序。可對任何未知的樣品進行‘解刨’分析。與其他X熒光儀器相比，TURBOQUANT 更為接近(符合)實際，在此程序中采用了數十種標準樣品，實測結果并予以固化。
7. 儀器在Windows操作系統上建立斯派克的分析軟件，操作極為方便。采用人機功效學原理，譜圖匯編，自動識別。定性、定量功能強大。儀器采用分級密碼，重要的數據得到保護。
8. 儀器具有多達十幾種校正模式(數學模型)(方法)，在定量分析中可充分應用，已取得*佳的分析結果。方法包括: 基本參數法、康普頓散射內標法、盧卡斯法、α經驗系數法、質量吸收系數法、平均原子量法等等。
熒光光譜儀屬于的分析檢測儀器，隨著半導體微電子技術和計算機技術的飛速發展，傳統的光學、熱學、電化學、色譜、波譜類分析技術都已從經典的化學精密機械電子學結構、實驗室內人工操作應用模式，轉化成光、機、電、算（計算機）一體化、自動化的結構，并向智能化、小型化、在線式及儀器聯用方向發展。SPECTRO XEPOS熒光光譜儀的亮點在于它大鈹窗超薄口的高分辨SDD探測器和自旋式的樣品腔。
應用領域：
專為粉未冶煉行業研發的一款設備，主要應用在水泥冶煉、鋼鐵冶煉、礦冶煉(銅礦、鉛礦等)、鋁冶煉、玻璃制造、耐火材料分析、各種粉未冶金分析行業、石油勘探錄井分析領域。
同時在地質、礦樣、冶金、稀土材料、環境監測、有色金屬、食品、農業等科研院所、大專院校和工礦企業中也得到廣泛應用。
性能優勢：
1.超低能量分辨率，輕元素檢測效果更佳
使用大面積鈹窗電致冷SDD探測器，探測器分辨率達到139eV，各項指標優于國家標準。SDD探測器具有良好的能量線
性、良好的能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比；對Si、S、AI等輕元素的測試具有良好的分析精度。
2. 測試精度更高，檢出限更低
①專業化的樣品腔設計，帶可調速的自旋樣品腔，能有效的測定輕元素和減少樣品均一性的影響，提高樣品的測試精度。
②采用超小超真空的樣品腔設計，保證測試時達到10Pa以下，使設備的測試范圍可從F元素起測試，大大地提高測試范圍、輕元素檢出限和精度。
3. 分析速度更快，從第1秒即可得到定性定量結果
采用自主研發的數字多道技術，其線性計數率可達100kcps，可以更加快速的分析，從第1秒就可以得出定性定量結果，
設計成高計數率，大大提高了設備的穩定性。
4. 一鍵式智能化操作
專業軟件，的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應用軟件，具有高靈敏度、測試時間短、一鍵智能化操作，使操作簡易，對操作人員限制小的特點。
5. 強大的自動化功能
①自動化程度高，具有自動開蓋、自動切換準直器與濾光片等功能。
②采用自動穩譜裝置，保證了儀器工作的一致性：利用解譜技術使譜峰分解，采用多參數的線性回歸方法，使元素間的吸收、排斥效應得到明顯的降低。
6. 強度校正法
具有多種測試模式設置和無限數目模式的自由添加，內置強度校正方法，可校正幾何狀態不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差。
7. 完善的光路系統
自主研發的光路系統，光程更短，光路損失更少，激發效果更佳。
8. 三重安全防護功能
三重安全防護功能，自動感應，沒有樣品時儀器不工作，無射線泄漏；加厚防護測試壁；配送測試防護安全罩。
9. 安全警示系統
警告指示系統，通電時綠色指示燈亮，測試時黃色輻射指示燈閃爍，防止誤操作。
儀器配置：
鈹窗電制冷SDD探測器
自旋式樣品腔
高效超薄窗X光管
信噪比增強器SNE
超近光路增強系統
可自動開啟的測試蓋
自動切換型準直器和濾光片
真空腔體
自動穩譜裝置
90mm×70mm的液晶屏
的數字多道技術
多變量非線性回歸程序
相互獨立的基體效應校正模型
技術參數：
型號：SPECTRO XEPOS
X射線源：50KV、1mA
樣品腔體積：Φ40.5mm×39.5mm
分析方法：能量色散X熒光分析方法
測量元素范圍：原子序數為9～92[氟（F）到鈾（U）]之間的元素均可測量
檢測元素：同時分析元素達三十多種，可根據客戶需要增加元素
含量范圍：ppm～99.99%
檢測時間：10秒以上
檢測對象：標準粉未壓片及可以放入標準樣品杯的固體、液體及粉末
探測器及分辨率：超大超薄的SDD探測器，分辨率 為144±5eV,可選配極速探測器至125eV
激發源：銠靶或鎢靶光管根據客戶需求可供選擇
攝像頭：高清攝像頭
測井環境：超真空系統，10秒可抽到10Pa以下，大氣、氦氣均可以
準直器和濾光片：四組準直器（7、5、3、1mm），6種濾光片組合自動切換
自旋裝置：可調速的自旋裝置
檢出限：對樣品中的大多數元素來說，檢出限達5～500ppm
真空系統：超真空系統，10秒可到10Pa
數據傳輸：數字多道技術，快速分析，高計數率
測試臺：360°電動旋轉式
保護系統：樣品腔為電動控制，上蓋打開時測試已完成
樣品放置：的樣品杯設計，自帶壓環，可防止樣品晃動
數字多道技術：計數率>50kcps，有效計數率高至500kcps
外形尺寸及重量：669mm×540mm×874mm，90KG
操作環境濕度：≤90%
操作環境溫度：15℃～30℃
軟件優勢：
采用公司*新的能譜EDXRF軟件，的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應用軟件，具有高靈敏度、測試時間短、一鍵智能化操作，操作簡易，對操作人員限制小的特點。
具有多種測試模式設置和無限數目模式自由添加，內置強度校正方法，可校正幾何狀態不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差。
全新的軟件界面和內核，采用FP和EC軟件組合的方法，應用面更加廣泛。
