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深圳市云帆興燁科技有限公司
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簡要描述： ITC57300動態參數測試系統;可在絕緣柵雙晶體管（IGBT），功率MOSFET，二管和其他雙器件之類的半導體器件上執行無損瞬態測量.
本公司5月10日13點49分報道：ITC57300動態參數測試系統的產品研發#技術新聞
（/c96719/products/d.html）
ITC57300動態參數測試系統主機接受測試頭，這些測試頭可在諸如絕緣柵雙晶體管（IGBT），功率MOSFET，二管和其他雙器件之類的半導體器件上執行無損瞬態測量（需要其他可選的偏置電源和定制個性化板）。大型機中包括分析和執行電阻和電感開關時間，開關損耗，柵電荷，Trr / Qrr和其他瞬態測試所需的所有測試設備和軟件。
為特定類型的瞬態測試設計的測試頭與主機上的特殊測試頭接收器配對。盡管測試頭只能執行一項特定的測試，但每個測試頭中的個性化板都會針對特定的設備，設備封裝和各種設備電路布置重新配置測試頭。
•ITC57210-N和P溝道功率MOSFET的R開關時間，MIL-STD-750，方法3472
•ITC57220-功率MOSFET和二管的Trr / Qrr，MIL-STD-750，方法3473
•ITC57230-功率MOSFET的柵電荷，MIL-STD-750，方法3471
•ITC57240 IGBT的電感性開關時間，MIL-STD 750，方法3477
•ITC57250短路（Isc）耐受時間，MIL-STD 750，方法3479
•ITC57260-功率MOSFET的柵電阻（Rg），輸入電容（Ciss），輸出電容（Coss）和反向電容（Crss），JEDEC標準JESD24-11
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