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| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)LAB-H2
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地
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更新時(shí)間：2023-07-30 15:11:20瀏覽次數(shù)：274次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來自 環(huán)保在線簡單介紹LAB-H2超聲波硬度計(jì)可測量的工件部位包括法蘭盤邊緣和齒輪根部沖壓件；工模、薄板；表面硬化的齒和齒輪的測量
LAB-H2超聲波硬度計(jì)原理
使硬度計(jì)金剛石壓頭與被測件接觸，在均勻的接觸壓力下，探測頭的諧振頻率隨硬度而改變，通過計(jì)量該頻率的變化達(dá)到測量硬度的目的，該方法對被測件的損傷極小，與上述其它方法相比具有很大的*性。基于以上原理，我公司引進(jìn)歐洲原裝超聲波探頭，研制出精度高、功能強(qiáng)大的LAB-H2型智能數(shù)顯超聲波硬度計(jì)。
超聲波硬度計(jì)原理公式：HV=F/（△f，Eeff）， △f代表頻率變化量、Eeff代表彈性模量、F是彈簧壓緊力。
LAB-H2超聲波硬度計(jì)應(yīng)用場合
LAB-H2超聲波硬度計(jì)可測量的工件部位包括法蘭盤邊緣和齒輪根部沖壓件；工模、薄板；表面硬化的齒和齒輪的測量；錐度部分硬度測量；軸和薄壁管道、容器的測量；車輪、渦輪轉(zhuǎn)子的硬度測量；鉆頭的刀口的硬度測量；焊接部位；
LAB-H2超聲波硬度計(jì)功能特點(diǎn)
o 測定與金屬、合金洛氏(HRC), 布氏 (HB), 維氏 (HV)標(biāo)準(zhǔn)硬度制
o 通過三個(gè)用戶模式測量不同屬性的金屬(如有色金屬, 高合金等.)
o 符合標(biāo)準(zhǔn)JB/T 9377-2010、ASTM A1038-2005、DIN50159、GB/T17394-1998、JB/T9378-2001
o 通過布氏硬度可自動(dòng)計(jì)算出抗拉強(qiáng)度
o 可測量厚度超過1毫米的各種部件（工模、齒輪、薄板、管道、水箱等等）
o 對曲軸刀具等鏡面產(chǎn)生的劃痕極小
o 測量范圍寬
o 使用簡單方便，測量快速準(zhǔn)確
o 可自行校準(zhǔn)儀器(通過兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣塊可對儀器測值校準(zhǔn))
o 液晶顯示，帶背光
o 自由選擇10N、50N、100N探頭，儀器自動(dòng)識(shí)別
o 不受測量物內(nèi)側(cè)情況影響，適用于復(fù)雜外形和難以接觸的部位
o 測量方向可以全方向自由變化—上下左右不論哪個(gè)方向都可不用補(bǔ)償直接測量
LAB-H2超聲波硬度計(jì)技術(shù)參數(shù)
| 測試范圍 洛氏硬度, HRC 布氏硬度, HB 維氏硬度, HV 抗拉強(qiáng)度, MPa | 20 - 70 90 - 450 230 - 940 370 - 1740 |
| 誤差范圍 洛氏硬度, HRC 布氏硬度, HB 維氏硬度, HV | ± 1 ± 3% ± 3% |
| 外形尺寸, mm | 120x60 x25 |
| 操作溫度° C | -5至+40 |
| 電源 | 4節(jié)AA電池 |
| 持續(xù)工作時(shí)間, 不少于 | 100小時(shí) |
| 主機(jī)重量, kg | 0.9千克 |
訂貨型號(hào)
| 名稱型號(hào) | 產(chǎn)品描述 |
| 超聲波硬度計(jì) LAB-H1 | 標(biāo)配進(jìn)口超聲波探頭一支 |
| 復(fù)合式硬度計(jì) LAB-H2 | 標(biāo)配進(jìn)口超聲波和里氏兩種探頭 |
| 里氏硬度計(jì) LAB-H3 | 標(biāo)配進(jìn)口里氏探頭一支 |
標(biāo)準(zhǔn)配置清單
o 主機(jī)
o 超聲波標(biāo)準(zhǔn)探頭50N（也可選擇10N或100N探頭）
o 進(jìn)口里氏探頭
o 2節(jié)AA電池
o 說明書
o 線纜
o 儀器便攜包裝
可選配置
o 10N探頭和100N探頭
o 充電器
o 校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)試塊
超聲波探頭和里氏探頭的技術(shù)參數(shù)
| 測試裝置 | 超聲波探頭 | 里氏探頭 |
| 長度： | 160mm | 140mm |
| 直徑 | 25mm | 25mm |
| 壓痕深度 | 30μm | 300 μm |
| 壓力 | 14.7N | 11Nm |
| 傳感器測試壽命 | 200,000 | 50,000 |
| *小測試厚度 | 1mm | 12mm |
| *小測試半徑 | 5mm | 10mm |
| *大表面粗糙度 | Ra 2.5 μm | Ra 3.2 μm |
| 數(shù)據(jù)存儲(chǔ) | 1000個(gè)測試值 | 100個(gè)測試值 |
| 測試時(shí)間 | 4秒 | 2秒 |
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