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| 產地 | 國產 | 產品種類 | 實驗室 |
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激光原位分析儀
將激光誘導擊穿光譜分析技術（LIBS）和原位統計分布分析技術（OPA）*結合的，為材料成分分析，缺陷分析，涂鍍層等樣品的分析應用提供了新的技術手段及質量判據。可用于航kong航天、汽車、高鐵、冶金、科研院所、質檢中心等。
儀器特點:
⊙ 多元素同時分析。28 個元素通道，包含 C，P，S 元素，
線性關系良好。
⊙ 預剝蝕時間，積分時間，門控延遲時間動態可調。
⊙ 分析簡便、快速，無前處理過程，避免樣品被污染。
⊙ 分析不受樣品尺寸，狀態，導電性，難熔與否的影響。
⊙ LIBS 具有高靈敏度與高空間分辨率，非常適合涂層材料、
薄膜材料分析。
⊙ 微小燒蝕光斑可進行局部微區分析，表面微損分析，適合材料
缺陷分析。
⊙ 非接觸測量，響應迅速，分析時間短，可滿足實時分析以及在
線分析的要求。
激光原位分析儀
儀器參數:
激光光源
⊙ Continuum SureliteTM III － 10 YAG 激光器
真空光學系統
⊙ 帕邢—龍格架法，光柵焦距 750 mm
⊙ 高發光全息光柵，刻線為 2400 條 /mm
⊙ 譜線范圍：170 ~ 800 nm
⊙ 色散率：一級色散率：0.55 nm/mm
二級色散率：0.275 nm/mm
⊙ 分辨率：優于 0.01 nm
檢測系統
⊙ 光電轉換系統
⊙ 瞬態信號前端處理電路
⊙ 數字信號采集識別和解析系統
⊙ 多線程的數據采集方式
⊙ 樣品掃描定位系統
⊙ 三維工作臺
⊙ CCD 成像系統：聯合數控工作臺實現樣品的定位和觀察
⊙電源要求：220V/20A
⊙外形尺寸：1500 mm×750 mm×1600 mm（寬 × 深 × 高）
⊙重 量：毛重約 700 Kg
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