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寧波新材料測試評價中心有限公司
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高分辨X射線衍射儀
儀器廠商：德國布魯克公司／Bruker AXS
型號：D8 Discover
到貨日期：2007年6月
技術指標：
Cu靶X光管電壓≤50kV、電流≤40mA
測角儀工作方式：θ/2θ方式
掃描范圍：- 3°～150°
5軸尤拉環樣品臺的測試范圍：
K軸：-10°到91° F軸：±360° X軸：-50mm到+50mm
Y軸：-50mm到+50mm
Z軸：-1.5mm到+2mm
測角儀精度：0.0001°、準確度≤0.02°
功能特點：
高分辨X射線衍射儀配有Gobel 反射鏡和雙晶單色器，可獲得近平行的入射X射線，可以對單晶、薄膜及納米材料等進行精細的X射線衍射分析。
主要用途：
單晶及單晶外延膜分析、搖擺曲線的測定及φ掃描、三軸晶衍射測量（即倒易空間等強度分布圖測量，Mapping）、薄膜的物相分析、厚度及粗糙度測量、小角散射測試。
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