X射線衍射儀（XRD）

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更新時間：2023-08-21 17:54:36瀏覽次數：1076次

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產品簡介

儀器照片儀器名稱X射線衍射儀儀器型號SmartLab3KW生產廠家日本理學儀器簡介高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內的每一個衍射峰的測量峰位和標準峰位的誤差不超過0.01度，一維陣列探測器可以提高強度150倍，不僅提高設備的使用效率，而且提高了設備的探測靈敏度

詳細介紹

儀器照片
儀器名稱	X射線衍射儀
儀器型號	SmartLab 3KW
生產廠家	日本理學
儀器簡介	高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內的每一個衍射峰的測量峰位和標準峰位的誤差不超過0.01度，一維陣列探測器可以提高強度150倍，不僅提高設備的使用效率，而且提高了設備的探測靈敏度。
技術參數	測量精度：±0.0001°；測角儀半徑≥200 mm；步長大于0.0001°；角度范圍（2θ）：-110～168°；輸出：小于3 KW；穩定性：±0.01%；管電壓：20～60 kV(1kV/1step)；管電流：10～60 mA。
儀器功能	X射線衍射儀可以對樣品進行物相定性和部分樣品的定量分析，可以測定精確的晶胞參數、簡單晶體的晶體結構、樣品的結晶度、微晶的粒度。利用相應附件可以測定納米粒度、薄膜厚度；可以進行斑點等小區域樣品進行分析；
在線測試系統
物相分析檢測案例
樣品要求	粉末：樣品須干燥處理，粒度小于300目，質量不少于0.1g；塊體: 需加工出一平整的表面，尺寸約為20mm×20mm×2mm。