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上海赫爾普國際貿易有限公司
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掃描型紫外可見分光光度計 UV756 儀器參數：波長范圍：190-1100nm 波長準確度：±0.5nm波長重復性：0.2nm光譜帶寬：2nm透射比準確度：±0.5%T透射比重復性：0.2%T光度范圍：-3~3A
掃描型紫外可見分光光度計 UV756 儀器參數：
波長范圍：190-1100nm
波長準確度：±0.5nm
波長重復性：0.2nm
光譜帶寬：2nm
透射比準確度：±0.5%T
透射比重復性：0.2%T
光度范圍：-3~3A ，0-200%T，0~9999C
基線平直度：±0.001A/h
雜散光：0.05%T@220nm、360nm
穩定性：±0.001A/小時 @500nm
顯示方式：128*64位點陣液晶顯示
Rs232通訊：USB接口
打印機：選配
分析軟件：支持
自動八聯比色池：選配
光學系統：雙光束比例監測
噪聲水平：±0.001A/2min@500nm
佑科儀器 紫外可見分光光度計UV756實驗室紫外可見光譜分析儀
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