高溫納米壓痕測(cè)試儀

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產(chǎn)品型號(hào)高溫納米壓痕測(cè)試儀HT-UNHT

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更新時(shí)間：2023-09-25 15:15:31瀏覽次數(shù)：54次

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甘沃實(shí)業(yè)（上海）有限公司

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高溫納米壓痕測(cè)試儀HT-UNHT是一個(gè)低載荷的納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)，可用于測(cè)量在高達(dá) 700 ℃ 溫度下薄膜和涂層的硬度和彈性模量。已獲磚利的高溫納米壓痕測(cè)試儀HT-UNHT 主動(dòng)式表面參比技術(shù)與的加熱技術(shù)相結(jié)合，可在任何溫度條件下提供高穩(wěn)定性解決方案。目前提供 3 種解決方案：- 高達(dá) 200 ℃（帶有液體冷卻）- 高達(dá) 450 °C（帶有液體冷卻）- 高達(dá) 700 ℃（真空

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奧地利安東帕Anton Paar高溫納米壓痕測(cè)試儀HT-UNHT

高溫納米壓痕測(cè)試儀 (HT-UNHT) 是一個(gè)低載荷的納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)，可用于測(cè)量在高達(dá) 700 ℃ 溫度下薄膜和涂層的硬度和彈性模量。
已獲磚利的 UNHT 主動(dòng)式表面參比技術(shù)與的加熱技術(shù)相結(jié)合，可在任何溫度條件下提供高穩(wěn)定性解決方案。

目前提供 3 種解決方案：
- 高達(dá) 200 ℃（帶有液體冷卻）
- 高達(dá) 450 °C（帶有液體冷卻）
- 高達(dá) 700 ℃（真空）

力： 100 mN
深度：100 um
溫度： 700 °C