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等離子體分析飛行時間質譜儀（PP-TOFMS）

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更新時間：2023-01-20 09:18:10瀏覽次數(shù)：424次

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產(chǎn)品簡介

深度剖析——PP-TOFMSPP-TOFMS是HORIBA新研發(fā)的一款專用于固體材料中化學成分深度剖析的質譜分析儀

詳細介紹

深度剖析——PP-TOFMS

PP-TOFMS是HORIBA新研發(fā)的一款專用于固體材料中化學成分深度剖析的質譜分析儀。

PP-TOFMS主要由剝蝕和激發(fā)樣品材料的輝光放電等離子體源和飛行時間質譜儀耦合而成。

高通量和通用性深度剖析技術

高離子密度使得輝光放電等離子體的濺射速率非常快，此外，由于樣品分析無需超高真空腔，可以極大地縮短預分析時間。通常，一個亞微米厚的薄膜僅需幾分鐘就可獲得分析結果。

PP-TOFMS采用的射頻激發(fā)源適用于任何類型的材料分析，從導體到非導體（如厚玻璃基體上的薄膜）；從無機材料到混合材料。柔性基底材料表面的鍍層通過簡單的樣品預處理后，同樣也可采用PP-TOFMS進行深度剖析。

高動態(tài)范圍

PP-TOFMS是一種融合了質譜和高強度等離子體源的所有優(yōu)勢后形成的高靈敏度分析技術。它在納米深度分辨率下信號的動態(tài)范圍可達到106，在深度剖析或基體分析時靈敏度可達到亞ppm級。分析過程中樣品的剝蝕濺射與離子化發(fā)生在輝光放電腔的不同位置，空間上的相互獨立可使基體效應最小化，并且通過內部簡單的校準即可直接獲得半定量結果。

全質譜覆蓋

飛行時間質譜儀的優(yōu)勢是能夠連續(xù)記錄完整的質譜數(shù)據(jù)，它每33微秒就可以記錄元素周期表中所有元素的全質譜圖，任何元素都可以根據(jù)剝蝕時間/深度進行監(jiān)控。這不僅意味著您不僅可以毫無風險地檢測到任何元素隨深度的變化，而且還可以檢測到那些您意想不到的污染元素。

此外，所有的同位素都可以被檢測，這對于通過同位素標記研究同重元素干擾或是氧化、擴散機理的人員非常重要。

關鍵詞：質譜分析儀飛行時間質譜儀質譜儀

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