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IR-2雙波段發射率測試儀

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更新時間：2025-03-20 08:42:27瀏覽次數：14次

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產品簡介

IR-2雙波段發射率測試儀

詳細介紹

技術物理所研制的IR-2雙波段發射率測試儀采用反射率法的測試原理，即通過采用主動黑體輻射源測定待測物表面的法向反射率，進而測出其在特定紅外波段的法向發射率。該儀器可測量常溫樣品在3～5um、8～14um、1～22um三個波段發射率。對特殊需要的用戶，通過專用的控溫加熱裝置，在常溫至300℃溫度范圍加熱樣品，進行發射率變溫測量。該儀器主要用于軍事裝備的紅外隱身、紅外烘烤、建材、紙張、紡織等行業對材料紅外輻射特性的測量研究。此儀器以日本JAPAN SENSOR CORPORATION遠紅外檢測儀為參考，誤差±0.03。

儀器特點：

1．儀器中有小型標準黑體輻射源，采用六位高精度微機控溫儀(能顯示到1mk)，使儀器不僅具有穩定的寬光譜測量范圍，而且極大地提高了儀器在測量時的可靠性和穩定性。

2．采用了的光學調制技術，使測量不受被測物表面輻射及環境輻射的影響。

3．在儀器設計中，考慮到樣品漫反射引起的測量誤差，除鏡反射(MR)探測通道外，還增設了專門的漫反射(DR)補償通道，從而確保了儀器的測量精度。

4．在信號及電子學處理技術上采用鎖相技術和微電子技術，較好地實現了對微弱信號的探測，進一步提高了儀器性能。

5．本儀器操作簡單、使用方便、測量快速。

6．可按需更換濾光片，在多個紅外光譜波段內進行測試。

7．在測量過程中不損傷被測樣品。

8．本儀器帶RS-232串口及復位鍵RST。

主要技術指標

1．測量波段：3～5um、8～14um、1～22um

(若用戶有特殊要求，可定制不同波段濾光片)