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西凡儀器(深圳)有限公司
2020新款貴金屬檢測儀,可以測戒指內圈成色的光譜測金儀,采用進口Fast SDD探測器,搭載ARM Cortex-A53四核處理器,Linux操作系統
1、貴金屬的稀缺與寶貴,讓灰吹法等傳統的破壞性檢測方法越來越不適用,市場上迫切需要一種快速、準確、無損的檢測方法,而X射線熒光光譜法無非是很好的貴金屬無損檢測方法。
2、社會上金銀首飾摻假現象時有發生,不論是商家還是顧客都為此蒙受巨大的損失,而西凡科技的金銀檢測儀可以讓金銀首飾的真實含量準確呈現,在這種公平公開的市場環境下,自然可以規避交易風險。
3、金銀首飾的摻假現象,讓顧客對商家產生了不信任,而商家借助金銀檢測儀可以將誠信經營的形象展現給顧客。
4、客戶的信任能給珠寶首飾店帶來更多的營業收入,從而提升了市場競爭力。當前國內外許多珠寶店都配備有金銀檢測儀,這也是他們在行業里能保持強大競爭力的原因之一。
面對這些紛繁復雜的商業和社會環境,你有過困惑嗎?怎么去改變這些現狀呢?怎么讓你的企業擺脫困境,贏得顧客的信任,重新煥發生機?
該款貴金屬檢測儀XF-S7是西凡西凡儀器2020全新款,一款可以測戒指內圈成分的光譜測金儀器,自主研發生產的X射線熒光光譜檢測儀之一,是一款配置的全元素檢測儀。它配備了進口Fast SDD探測器擁有十多項研發,性能突出,采用進口Fast SDD探測器,搭載ARM Cortex-A53四核處理器,Linux操作系統
可以快速準確檢測各種貴金屬,應用廣泛!
不會對珠寶首飾等被測樣品造成任何損壞。
一鍵測試功能,自動化檢測無需配備專業人員
秒定性,7秒可得出直觀結果。
一體化設計,占用空間小,便于攜帶與管理。
具備反輻射功能,整機壽命超過10年
可靠的檢測數據。
加裝防輻射裝置,主動保護操作人員安全。
核心特征:可測戒指內圈+高精確度±0.01%
精確度: ±0.01%
整機分辨率:130±5eV
探測器: 進口Fast SDD探測器
適用溫度: -11~46℃
規格尺寸:467×370×336(mm)
樣品腔:310×248×124(mm)
主體結構:高強度金屬支架+鋁合金外殼
電腦操作系統:ARM 四核+Linux
熱敏打印機:支持
天平/密度儀:支持
電池支持:否
樣品可視:支持(鉛玻璃)
電壓: 100V~240V
額定功率:150W
重量:40公斤
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