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上海瑞第電子科技有限公司
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SpiralTOF的離子光學系統，使MALDI-TOFMS在寬分子量范圍內提供較高質量分辨率JMS-S3000基質輔助激光解析電離飛行時間質譜儀，采用日本電子研發的SpiralTOF模式離子光學系統，其高質量分辨率和高量準確度具有非常多的性能特點，特別是在合成高分子、材料化學、生物高分子領域滿足了的科技發展和研究需求
SpiralTOF技術
JMS-S3000采用的SpiralTOF模式離子光學系統，遠優于線性模式和反射模式的離子光學系統。它采用大阪大學開發的 “Perfect focusing（聚焦）"和“Multi-turn（多向轉動）"技術，每隔一定距離(螺旋軌道的 1 層)能將離子包匯聚，因此即使延長飛行時間，離子包在檢測面上也不會擴散，從而同時實現了的質量準確度和極大的離子透射率。
SpiralTOF的光學系統
JEOL的技術，使螺旋狀的離子軌道在有限的空間內達到了17m長。圓筒電場中配置了4組層狀環形電極（Toroidal electrode），每組環形電極由9 張松田板(Matsuda plates)組成，以此形成螺旋軌道。離子在離子源中被20kV的電壓加速后，依次通過4組環形電極的各層，最終到達檢測器。
JMS-S3000秉承MALDI-TOFMS傳統優良技術，通過延長飛行距離，成功地提高了質量分辨率和質量準確度。
MALDI-TOFMS的離子光學系統組合了離子延時引出法的離子光學系統 (至匯焦位置的距離L1：紅線) 和具有動能匯聚性的離子光學系統 (距離 L2：藍線)。離子延時引出法顯著地提高了MALDI-TOFMS的質量分辨率，但同時也留下了只在局部達到了高質量分辨率的難題。這一問題可以通過增大L2 / L1之比(即藍線的比例) 來解決。JMS-S3000的L2比傳統反射模式TOFMS要長出10倍左右，因此能夠對樣品進行高質量分辨率及根據內標法進行高質量準確度的分析。
在寬質量范圍內達到高分辨率
JMS-S3000通過延長飛行距離，在寬質量范圍內能夠實現高質量分辨率、根據內標法得到的質量準確度，因而超越了傳統的MALDI-TOF的限界。
使用內標法，ACTH 碎片1-17(m/z 2093)的質量準確度達到了0.16ppm。
降低樣品制備的影響
基質結晶后表面的凸凹不平引起激光照射時的初期位置不同，因而產生飛行時間差。使用傳統的離子光學系統時，飛行時間差會引起質量分辨率及外標法質量準確度的降低。JMS-S3000通過延長飛行距離，將這一影響降低到最小限度，不僅質量分辨率穩定，同時也提高了外標法的質量準確度。
通過外標法獲得高質量準確度
JMS-S3000通過外標法，能夠進行高質量準確度的分析。將標準肽混合物和相當于25fmol的牛血清白蛋白的消化液分別滴在標準靶板的校準標樣點位上和樣品點位上。自動取得譜圖之后，進行譜峰拾取 (包括同位素分離)，利用Matrix Science公司的 MASCOT PMF方式進行數據庫檢索。下表為各點位上的匹配肽的質量誤差平均値。
JEOL的靶板
JEOL的靶板，上有384個MTP（微量滴定）樣品點位，每4個樣品點位中間有1個校準標樣點位。另外，每個靶板配有各自獨立的ID，靶板裝入裝置后會被自動識別。ID和數據一起被保存起來。
利用SpiralTOF進行合成高分子的分析
嵌段共聚物分析實例
在測試的整個區域，反復確認單位，解析分子量分布
輸出質譜圖，用Polymerix™進行解析
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