產(chǎn)品介紹英文名稱：TemperatureAttitudeTestingChamber產(chǎn)品別名：高低溫低氣壓試驗(yàn)箱、氣壓箱、低氣壓試驗(yàn)箱、溫濕度氣壓試驗(yàn)箱、高海拔環(huán)境模擬試驗(yàn)箱、高原環(huán)境模擬試驗(yàn)室、高空低氣壓溫濕度試驗(yàn)箱、真空高低溫試驗(yàn)箱、可靠性試驗(yàn)設(shè)備等產(chǎn)品用途：·KU系列低氣氣壓試驗(yàn)箱可以模擬海拔4萬米以下高度氣壓，可以用于高原和航空應(yīng)用產(chǎn)品的環(huán)境模擬和試驗(yàn)

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產(chǎn)品介紹

英文名稱：TemperatureAttitudeTestingChamber
產(chǎn)品別名：高低溫低氣壓試驗(yàn)箱、氣壓箱、低氣壓試驗(yàn)箱、溫濕度氣壓試驗(yàn)箱、高海拔環(huán)境模擬試驗(yàn)箱、高原環(huán)境模擬試驗(yàn)室、高空低氣壓溫濕度試驗(yàn)箱、真空高低溫試驗(yàn)箱、可靠性試驗(yàn)設(shè)備等
產(chǎn)品用途：
·KU系列低氣氣壓試驗(yàn)箱可以模擬海拔4萬米以下高度氣壓，可以用于高原和航空應(yīng)用產(chǎn)品的環(huán)境模擬和試驗(yàn)。
·低氣壓試驗(yàn)箱可以獨(dú)立進(jìn)行低氣壓試驗(yàn)，也可以綜合高溫、低溫和濕度等因子進(jìn)行綜合試驗(yàn)。
·用于測(cè)試產(chǎn)品在空中或高海拔地區(qū)受到高度、溫度、濕度、綜合作用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。
應(yīng)用領(lǐng)域：
適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、電工、電子產(chǎn)品、機(jī)械以及其他產(chǎn)品、零部件、材料等進(jìn)行高低溫和低氣壓試驗(yàn),模擬溫度變化和海拔高度變化的單項(xiàng)或組合條件下對(duì)產(chǎn)品、零部件、材料等進(jìn)行質(zhì)量及可靠性測(cè)試。
以便產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。

恒溫恒濕試驗(yàn)箱

等效海拔高度如表格（摘自GB/T 2423.21-2008）

恒溫恒濕試驗(yàn)箱

產(chǎn)品參數(shù)：

恒溫恒濕試驗(yàn)箱

產(chǎn)品實(shí)拍

滿足試驗(yàn)方法(標(biāo)準(zhǔn))：
GB/T 10590-2006高低溫/低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法GB/T 2423.21-2008 低氣壓試驗(yàn)方法 MGB/T 2423.25-2008 低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)Z/AMGB/T 2423.26-2008 試驗(yàn)高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)Z/BMGJB150.2A-2009 低氣壓（高度）試驗(yàn)GJB150.3A-2009 高溫試驗(yàn)GJB150.4A-2009 低溫試驗(yàn)GJB150.6A-2009 溫度高度試驗(yàn)GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢測(cè)方法總則GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢測(cè)方法溫度試驗(yàn)設(shè)備

關(guān)鍵詞：低氣壓試驗(yàn)箱試驗(yàn)箱高低溫試驗(yàn)箱

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