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亞銘(北京)科技有限公司
高頻(微波)介電常數測試儀(TE空洞共振腔)
儀器簡介:
TE空洞共振腔專用于測量厚度小于0.3mm一下的薄膜,支持5G(第五代移動通信系統),可達40GHz的頻率。
有固定的間隙用于插入待測樣品,并且在測量穩定性方面優于將樣品夾在諧振器中的方法。
可以測量各種材料(例如軟樣品和脆性樣品)的介電常數。
技術參數:
可測試頻率范圍: 10G-40GHz
介電常數Epsilon:1-5, 準確度: ±1%,
介電損耗tangent delta:0.01-0.0001, 準確度:±5%
樣品形狀:片狀(厚度0.3mm以下,40mm正方形以上)
符合標準JIS R1641 IPC-TM650 2.5.5.13
擁有多種腔體,每個腔可測一個頻點:
主要特點:
TE空洞共振腔(Cavity Resonator ),專門用于測量厚度小于0.3mm一下的薄膜。
應用領域:
主要應用于5G材料,例如薄膜等。
高速數字/微波電路用基底材料 ;濾波器和介電天線用低損耗電介質 ;化學制品;
薄膜與新材料;半導體材料;電子材料(包括CCL和PCB)
相關資料
·日本AET高頻(微波)介電常數分析儀
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