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顯微分光光度計

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更新時間：2024-05-24 08:43:21瀏覽次數：99次

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產品簡介

產品介紹：顯微分光光度計（顯微光度計、顯微分光光度法）是用來表征薄膜的光學性能，厚涂層在微米區域

詳細介紹

產品介紹：

顯微分光光度計（顯微光度計、顯微分光光度法）是用來表征薄膜的光學性能，厚涂層在微米區域。顯微分光光度計也被稱為微反射，微光譜儀，微反射儀，光譜儀、顯微光度計，光譜光度計等。由于Angstrom的設計，用戶可以通過視頻直播、數字編輯以及反射、傳輸、吸收光譜的測量工具享受顯微分光光度計（MSP系列）數字成像能力。數據采集毫秒。tfprobe軟件允許用戶設置加熱階段和冷卻階段的動力學研究在光學性質的變化，如反射率、透過率、實時涂層厚度、折射率（光學常數）等。自動映射功能和機動聚焦功能用具有機動X-Y工作臺或ρθ工作臺的各個顯微分光光度計獲得。軸也可以使用操縱桿控制。波長范圍通常是用戶考慮的一個重要因素。Angstrom的顯微分光光度計覆蓋深紫外（DUV）到近紅外（NIR）范圍。應該考慮哪一個范圍取決于幾個因素，例如薄膜或厚涂層的厚度范圍，反射或透射率的典型波長范圍是什么等等。msp100是一種模型，通過高質量和昂貴的紫外可見光兼容光學設備覆蓋250～1000nm波長。

產品參數：

波長范圍	250~850nm
波長分辨率	1.0nm
光斑尺寸	40μm（10X），30μm（15X），8μm（50X）
樣品尺寸	可達20mm
底材尺寸	厚度可達20mm
可測厚度范圍	20A至50μm
測量時間	2ms最小
精度	優于0.5%
重復性	＜1A