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TS2000-HP Probe System 半自動化探針臺測試系統

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產品型號TS2000-HP Probe System

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更新時間：2023-06-16 20:30:24瀏覽次數：385次

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產品簡介

TS2000-HPProbeSystem半自動化探針臺測試系統MPI的TS2000-HP半自動化探針臺測試系統可提供8英寸及以下晶圓器件的高功率測量，*的ShielDEnvironment™可提供低噪聲和屏蔽的測試環境

詳細介紹

TS2000-HP Probe System 半自動化探針臺測試系統

MPI的TS2000-HP半自動化探針臺測試系統可提供8英寸及以下晶圓器件的高功率測量，*的ShielDEnvironment™可提供低噪聲和屏蔽的測試環境。
為高電壓和大電流量測應用而設計
? 適合至高 10kV / 600A （脈沖）的晶圓高功率組件量測
? 提供載片下的高功率動、靜態參數的測試
? 晶圓載物臺表面鍍金，小化接觸電阻；真空吸孔優化，適合裝載至薄 50 µm 的薄晶圓
? 可選配搭載 Taiko 晶圓載物臺
? 提供抗電弧解決方案
MPI ShielDEnvironment™ 屏蔽環境
? 專為 EMI / RFI / Light-Tight 屏蔽所設計的精密量測環境
? 支援飛安低漏電值量測
? 溫度量測范圍 -60 °C to 300 °C

安全系統

采用可互鎖的安全光幕，可通過互鎖系統關閉儀器，保護用戶免受意外高壓沖擊。

該系統具有后門，并由互鎖保護，以提供簡便的初始安全測量設置。