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深圳市科時達(dá)電子科技有限公司
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產(chǎn)品型號FastFLIM Q2
品 牌
廠商性質(zhì)其他
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更新時間：2023-06-16 19:33:45瀏覽次數(shù)：190次
聯(lián)系我時，請告知來自 環(huán)保在線快速熒光壽命成像系統(tǒng)FastFLIM激光共焦多維成像系統(tǒng)：FLIM/FCS時間分辨的空間分辨顯微系統(tǒng)：ISS推出新一代的快速熒光壽命成像系統(tǒng)FLIM/PLIM
快速熒光壽命成像系統(tǒng) FastFLIM
激光共焦多維成像系統(tǒng)：
FLIM / FCS 時間分辨的空間分辨顯微系統(tǒng)：
ISS 推出新一代的快速熒光壽命成像系統(tǒng)FLIM/PLIM。成像速度可達(dá) 20 fps 256×256），自由選擇1×1到4096×4096像元分辨率；同時獲取熒光壽命成像和共焦強(qiáng)度成像數(shù)據(jù)，保持單分子級的檢測靈敏度。
用于化學(xué)、納米、能源、生物等學(xué)科方向，單分子、活細(xì)胞、微區(qū)成像及形貌、能級結(jié)構(gòu)和能量傳遞特征的機(jī)理研究。滿足上轉(zhuǎn)換量子點(diǎn)及相關(guān)材料的壽命成像測試
ISS以整機(jī)的熒光壽命成像系統(tǒng)為己任，實(shí)現(xiàn)共焦三維掃描模塊（針孔，二維振鏡、壓電臺或自動工作臺）和時間分辨模塊的結(jié)合，提供＜100ps-100ms的全時域熒光壽命檢測；同時軟件融合Phasor Plots熒光壽命直讀半圓規(guī)的矢量圖技術(shù)，可視化、直觀的提供熒光壽命分布及數(shù)值。
熒光壽命成像數(shù)據(jù)分析進(jìn)入直讀時代。
ISS 激光共焦掃描熒光壽命成像系統(tǒng)，還可以同時滿足以下特殊需要：
1. 雙光子的熒光壽命 FLIM/PLIM 成像；
2. 深紫外激發(fā)的熒光壽命 FLIM / PLIM 成像；
3. 紅二區(qū)熒光壽命 FLIM /PLIM 成像；
4. 激光掃描大視場活體成像 FLIM /PLIM ；
5. 光譜采集及光譜成像；
6. AFM聯(lián)用--活細(xì)胞工作站聯(lián)用--冷凍及加熱工作臺聯(lián)用；
7. 納米顆粒三維跟蹤；（專有技術(shù)）
主要功能描述：（可以選擇雙光子功能）
激光共焦熒光強(qiáng)度成像LCM；
熒光壽命成像FLIM，磷光壽命成像PLIM；
上轉(zhuǎn)換熒光（壽命）成像，稀土發(fā)光（壽命）成像，延遲熒光（壽命）成像；
熒光波動成像FFS（FCS，F(xiàn)CCS, PCH，N&B, RICS， FLCS，scan-FCS），
FLIM-FRET成像；熒光定量成像；
單量子點(diǎn)發(fā)光（壽命）成像，單分子及單分子熒光共振轉(zhuǎn)移成像smFRET，包括交替激發(fā)PIE成像；
穩(wěn)態(tài)及瞬態(tài)偏振成像；
微區(qū)熒光光譜采集 400-1100nm；
反聚束測試（含專業(yè)軟件）；
活細(xì)胞工作站升級（含多孔板）
儀器特點(diǎn)：
實(shí)時直讀式獲得熒光壽命數(shù)值及變化趨勢，F(xiàn)RET效率分布；
選擇350nm-1100nm加上900nm-1700nm波長范圍檢測器，2-4通道檢測器，用于成像，F(xiàn)LIM-FRET；
可以升級無波長干擾AFM（正置或倒置），實(shí)現(xiàn)同區(qū)域形貌和FLIM同步測試；
紫外-可見-紅外激發(fā)波長，單波長或超連續(xù)激光器；單光子或雙光子的激光器；
主要技術(shù)指標(biāo)
1. 熒光壽命測試范圍：100ps-100ms；
2. 最小時間分辨率≤1ps；
3. 數(shù)據(jù)計(jì)數(shù)速率：65 MHz/channel
4. 檢測通道：upto 8 channels；
5. 標(biāo)配xy振鏡掃描，5kHz掃描頻率，配合xy閉環(huán)自動臺實(shí)現(xiàn)大區(qū)域掃描；
6. Phasor plots 用于數(shù)據(jù)分析；
7. 光譜采集；400-1100nm
8. 掃描透射成像；
9. 界面聚焦系統(tǒng)；
10. 變溫附件；77k-500k；
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