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深圳市科時達電子科技有限公司
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原子探針可為研究和工業領域提供常規的高性能三維納米分析
原子探針可為研究和工業領域提供常規的高性能三維納米分析。
基于原子探針斷層分析儀器和應用領域30年的成功經驗，CAMECA開發了EIKOS™原子探針顯微鏡，應用于合金的快速研制和納米級材料研究。
EIKOS原子探針提供了：
具有納米級微觀結構表征的三維層析成像
高效率的高空間分辨率單原子探測
對所有元素及其同位素的靈敏度一致
定量組分測量（亞納米至近微米級）
可提供電壓或電壓和激光配置
標準樣品制備方法
EIKOS可提供2種配置：
EIKOS
基礎EIKOS系統采用反射器設計，可提供出色的質量分辨能力和信噪比。預先對準的集成反電極確保易用性和高可靠性。電壓脈沖系統在各種冶金應用中提供了非常高的數據質量。
EIKOS-UV
配置的EIKOS-UV系統結合了基礎EIKOS（電壓脈沖，基于反射功能，預對準反電極）的所有突出特性，并增加了一個集成的激光脈沖模塊和計算機控制的焦斑設計，以適用于更大的應用范圍。
基礎EIKOS系統可現場升級至EIKOS-UV。
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