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濟南創譜儀器有限公司
產品簡介 : 1.標準探針臺 2.光學隔振平臺CPPT-A66,臺面600*600mm含支架 3.筆記本電腦/臺式電腦(標準的VGA接口和USB接口) 4.美國吉時利2400數字源表含軟件
產品信息:
直流I-V測試是表征微電子器件、工藝以及材料特性的基石。通常使用I-V特性分析,或者I-V曲線來決定器件的基本參數。
創譜儀器CPIV-SD半導體器件IV特性測試系統采用高精度,高漏電精度探針臺、數字源表以及上位機軟件組成;
產品特點:
◆CPZH系列探針臺:4寸/6寸樣品盤,漏電精度100fA,真空吸附,3微米探針移動精度,10微米針尖,2000萬CCD成像,12寸顯示器
◆吉士利數字源表:
(雙電極)單通道選用2450,電壓量程:20mV-200V;電流量程:10nA-1A
(三端器件等)雙通道選用2602B,電壓量程:100nV-40V;電流量程:0.1fA-10A
◆IV測試軟件:
可以實現:單階恒流輸出、單階恒壓輸出、電阻測量、多階恒流輸出、多階恒壓輸出、電流掃描、電壓掃描、電流電壓波形輸出、溫度測量-PT100鉑電阻
在測試的過程中,測量數據以圖形和表格的方式實時顯示,在切換到下一步驟后,顯示數據界面重新進行初始化,同時系統信息窗口提示當前正在執行的步驟。
產品應用:
◆二極管特性的測量與分析
◆雙極型晶體管BJT特性的測量與分析
◆MOSFET場效應晶體管特性的測量與分析
◆MOS 器件的參數提取
實測曲線:
實測雙端器件IV測試曲線
實測三端器件IV測試曲線
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