ASLI半導體器件高低溫試驗箱

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產品型號HL-80C

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更新時間：2024-03-15 11:29:06瀏覽次數：196次

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  高低溫老化試驗機

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廣東艾思荔檢測儀器有限公司

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產品簡介

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詳細介紹

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產品具體規格、價格以我司銷售溝通報價為主。
半導體器件高低溫試驗箱，控制器操作界面設中英文可供選擇，實時運轉曲線圖可由屏幕顯示，具有100組程式、每組100段、每段可循環999步驟的容量，每段時間設定大值為99小時59分，資料及試驗條件輸入后，控制器具有熒屏鎖定功能，避免人為觸摸而停機，具有RS-232或RS-485通訊界面，可在電腦上設計程式，監視試驗過程并執行自動開關機、數據等功能控制器。

半導體器件高低溫試驗箱技術指標：
型號     工作室尺寸（mm）  外箱尺寸（mm）
HL-80     400*500*400     950*1650*950
HL-150    500*600*500    1050*1750*1050
HL-225    600*750*500    1200*1900*1150
HL-408    600*800*850    1200*1950*1350
HL-800    1000*1000*800  1600*2000*1450
HL-1000   1000*1000*1000  1600*2100*1450
溫度范圍:A型:25℃～150℃；B型:0℃～150℃；C型:-20℃～150℃；D型:-40℃～150℃；E型:-60℃～150℃；F型:-70℃～150℃
溫度范圍：-40℃～+80℃
升溫時間：-40℃～+80℃≤20分鐘；
降溫時間：+80℃～-40℃≤20分鐘；
溫度波動度：≤±0.5℃
溫度偏差：≤±2℃
注：以上性能指標是在設備周圍環境溫度為25℃±5℃,空載條件下測的數據。
半導體器件高低溫試驗箱控制系統：
◆溫濕度顯示控制儀表采用熒幕操作簡單，無須按鍵輸入，精度：0.1℃(顯示范圍)，解析度：±0.1℃；
◆風路循環出風回風設計，風壓、風速均符合測試標準，并可使開門瞬間溫度回穩時間快。
◆升溫、降溫、系統獨立可提高效率，降低測試成本，增長壽命，減低故障率。
◆整體設備超溫；整體設備欠相/逆相；整體設備過載；制冷機組超壓；整體設備定時；
◆其它還有漏電、運行指示，故障報警后自動停機等保護。
◆具有熒屏自動屏保功能，在運轉或設定中，如發生錯誤時，會提供警示迅號。
◆制冷機采用法國原裝“泰康”全封閉壓縮機。
◆干燥過濾器、冷媒流量視窗、修理閥、油分離器、電磁閥、貯液筒均采用進口原裝件
◆冷凍系統采用單元或二元式低溫回路系統設計。
◆采用多翼式送風機強力送風循環，避免任何死角，可使測試區域內溫度分布均勻。

半導體器件高低溫試驗箱特點：
1、試驗系統結構設計合理，制造工藝規范，外觀美觀、大方,維護保養方便。
2、零部件的配套與組裝匹配性好，主要功能元器件均采用具有水平的件，提高了產品的安全性和可靠性，能保證用戶長時間、高頻率的使用要求。
3、設備正常運行所需的附帶條件已有配備，買方只需提供動力電力和滿足要求的工作環境即可。
半導體器件高低溫試驗箱標準：
1、GB10592.2-1989高低溫試驗箱技術條件
2、GB11158-1989高溫試驗箱技術條件
3、GB105589-1989低溫試驗箱技術條件
4、GB/T2423.1-2001(IEC68-2-1)試驗A低溫試驗方法
5、GB/T2423.2-2001(IEC68-2-2)試驗B高溫試驗方法
6、GJB150.3-1986高溫試驗
7、GJB150.4-1986低溫試驗
8、GB2423.22溫度變化試驗方法
半導體器件高低溫試驗箱介紹：
艾思荔半導體器件高低溫試驗箱壹叁伍叁捌肆陸玖零柒陸又名高低溫循環試驗箱，采用計算機技術、的PID控制方法對環境溫度、濕度進行測量和控制，并可以與恒溫恒濕設備配套使用。半導體器件高低溫試驗箱是根據國家相關標準設計制造，廣泛適用于航空、航天、、艦船、電工、電子及材料等行業的產品整機及零部件的高低溫試驗及溫度快速變化試驗。以便對試品的性能和品質作出評價。