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東譜科技（廣州）有限責任公司
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EDX-LEPlus是一專用于RoHS/ELV/法規限制的有害元素篩選分析的X射線熒光分析裝置
EDX-LE Plus是一專用于RoHS/ELV/法規限制的有害元素篩選分析的X射線熒光分析裝置。 配備無需液氮型電子制冷（SDD檢測器）檢測器，因此在實現降低運作成本和更易維護的同時，以維持高可信性分析和進一步提高操作性達到自動化分析為目標。款根據不同樣品從開始測試到得到結果所需測試時間基本上可在1分鐘內完成，所以可以應對RoHS法規中所限制的有害元素的篩選分析。另外，針對檢測有害元素Cl和無鹵素要求、以及Sb的檢測分析，該款裝置也可以通過篩選分析簡單的檢測出來。同時推薦該裝置作為歐盟和中國RoHS2.0篩選分析手段。
上市時間：2017年11月
EDX-LE Plus是專業應對RoHS/ELV等法規中有害物質快速篩選的能量色散型X射線熒光分析裝置。高性能的SDD檢測器與化的光學系統，靈敏度提高檢測下限1.5-5倍，分析速度可提高3倍。SDD檢測器擁有高分辨優于140ev。定量分析中的背景FP法還注冊了日本(PCT/JP2013/78002，PCT/JP2013/78001)。該儀器可以對固體、液體、粉末等樣品非破壞性的全元素分析，樣品無需前處理，可以廣泛應用于RoHS篩選、鍍層、薄膜及組成成分分析。
技術參數：
1. 測定原理 X射線熒光分析法
2. 測定方法 能量色散型
3. 測定對象 固體、液體、粉狀
4. 測定范圍 13Al -92U
5.樣品室尺寸 W370mm×D320mm×H155mm
6. 制冷方式 電子制冷
7. 一次濾光片 5種+OPEN自動交換
8. 軟件 篩選分析、定性分析、定量分析
主要特點：
●利用“篩選分析"畫面，操作簡單方便
●從主成分判定到條件選擇全部實現自動處理
●標準配備了RoHS/ELV分析所需要的必要功能
●提升篩選效率，高精度?高速分析
●擁有大容量樣品室，可以直接測定大型樣品
●配備高能量分辨率電子制冷SDD檢測器，將日常維護量控制到最小程度
●配備保護功能，限制條件或數據的變更
●配備篩選輕松設定功能，能夠根據管理方法輕松自定義
附件：能量色散型X射線熒光分析儀EDX-LE Plus 樣本
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