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成都光納科技有限公司
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Duetta可作為熒光光譜儀使用，也可以作為UV-Vis-NIR光譜儀測量吸光度，或用于測量真正的分子指紋，這需要同步獲取熒光和吸光度，同時進行內濾效應校正
Duetta 可作為熒光光譜儀使用，也可以作為UV-Vis-NIR 光譜儀測量吸光度，或用于測量真正的分子指紋，這需要同步獲取熒光和吸光度，同時進行內濾效應校正。同步吸收- 熒光光譜儀Duetta 標配超快******的CCD 技術，讓它在采集速度的數倍, Duetta 標配超快******的CCD 技術，讓它在采集速度的數倍優于任何使用PMT 的熒光光譜儀。Duetta 是******一款能在100 毫秒內獲得250nm-1100nm 校正光譜信息的一體式熒光光譜儀。這一******的CCD 技術也將近紅外檢測光譜范圍擴展到1100 nm，遠超過標準PMT 熒光儀的光譜范圍
Duetta 的兩個獨立檢測器，可同時采集熒光和透射光路的吸光度數據 
實時內濾效應校正的熒光光譜 技術指標 
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