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天津瑞利光電科技有限公司
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產品介紹Thorlabs的雙掃描狹縫式光束質量分析儀非常適合分析近似高斯光束的截面輪廓
Thorlabs的雙掃描狹縫式光束質量分析儀非常適合分析近似高斯光束的截面輪廓。可以在2 Hz到20 Hz之間的掃描速率(可以使用軟件設定)下，測量光束截面中用戶的X軸和Y軸的強度輪廓。20 Hz的高掃描速率能夠實時對準光學系統。這些光束質量分析儀主要用于連續激光束，也可以采用平均法測量大于10 Hz的脈沖光束。測量結果可用于評估光束質量、檢查重建的光束輪廓以及監測長期穩定性。
這些掃描狹縫式光束質量分析儀配有低噪聲電子元件，動態范圍高達78 dB，能夠測量直徑在2.5 µm和9 mm之間的光束。光束直徑參考ISO 11146標準測量，可按照多種行業標準的限幅水平顯示，比如1/e2(13.5%)、50%或用戶設定的任意限幅水平值。
我們提供三種型號的雙掃描狹縫式光束質量分析儀。BP209-VIS(/M)用于200 nm - 1100 nm，BP209-IR(/M)用于900 nm - 1700 nm，而BP209-IR2(/M)的使用波長范圍是擴展的近紅外波段，即900 nm - 2700 nm。所有型號都有一個Ø9 mm的入射孔徑，通過連續掃描兩個寬度相同且互相垂直的狹縫進行測量。使用軟件切換5 µm或25 µm寬的狹縫對、選擇掃描狹縫或刀口工作模式、設置其它掃描選項等。有關不同狹縫寬度和工作模式的功能和用法信息，請看工作標簽。
Thorlabs的Beam軟件可以控制這些光束質量分析儀的工作，且提供了多種用戶可調節的設置以及顯示與數據記錄選項。軟件可以在軟件標簽下載，然后安裝到用戶的PC。光束質量分析儀連接到裝有Beam軟件的PC時，不需要其他的硬件和電源。Thorlabs采用USB 2.0高速接口將測量頭連接到PC，所需的USB電線隨貨附帶。這些光束質量分析儀具有靈活的數據輸出選項，以及用于美國儀器(National Instruments)軟件的數據接口，便于將其集成到自定義數據處理環境。更多有關軟件功能的信息，請看上面的用戶界面標簽。
M2測量系統
基于BP209光束質量分析儀的完整M2測量系統通過將下面出售的光束質量分析儀與波長兼容的擴展裝置集成就可以搭建。基于BP209系列測量頭的完整M2測量系統的組件可以在提供的產品中購買，而有關Thorlabs M2測量系統，以及配置和購買基于BP209或BC106光束質量分析儀系統的所有信息，請看M²測量系統頁面。
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