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ELECTRONICA激光掃描儀Q6-B

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更新時間：2024-05-07 08:25:54瀏覽次數：197次

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產品簡介

產品介紹QuellTech激光掃描儀利用三角測量原理來檢測表面的二維輪廓

詳細介紹

產品介紹

QuellTech 激光掃描儀利用三角測量原理來檢測表面的二維輪廓。通過特定的光學組件，點狀激光束被擴展為一條線并投射到感興趣的對象上。反射激光線的漫射光被物鏡以一定角度捕獲，然后導向二維接收芯片。

根據已知的距離和角度，為 x 水平（激光線）中的每個像素計算準確的校準高度值 (z)，從而在樣本的 x-z 平面中產生準確的輪廓。如果掃描儀在樣品（y 軸）上引導，則會創建一系列輪廓，在空間中形成三維點云。該點云可以通過軟件進行尺寸控制。

性能特點

分辨率低至24 µm
用于非常有光澤的材料的特殊算法
不同的高動態范圍 (HDR) - 反射率差異很大的物體的模式
反射率差異很大的物體的多斜率模式
不同的觸發方式，2個觸發輸入（編碼器輸入RS422）
在芯片上設置多個測量窗口
自動跟蹤測量窗口
多掃描儀應用的主從配置
存儲在激光掃描儀中的用戶配置
在制造商現場單獨進行極其準確的校準
帶防護系統 IP67 的外殼
*GenICam 和 GigEVision 接口標準，用于連接已知的圖像處理軟件工具
軟件開發工具包
圖像處理軟件

技術參數

掃描儀類型：50-178

Z范圍： 50 mm

X 起點范圍：165 mm

X 中間范圍（標稱）：178 mm

X 端范圍：190 mm

距離Z- 起點范圍：123 mm

工作距離Z-中間范圍：148 mm

X分辨率：86.91μm

Z分辨率：2.13μm

產品應用

錫膏用量監督

連接器的銷直線度測量

表面凸度測量

間隙測量和控制

尺寸穩定性的在線檢測

食物分份

鐵路用鋼軌型材檢驗

飛機襟翼和副翼的角度設置

印刷電路的檢查

產品參數

關鍵詞：芯片

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