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射頻導納物位計

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更新時間：2022-11-15 16:42:26瀏覽次數：181次

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產品簡介

概述KX系列為通用型物位計用于連續物位的測量，產品應用于工礦現場，適用于大多數應用場合，儀表由一個電路單套防爆外殼和桿式或纜式傳感元件組成，傳感器有多種型號可選，儀表可選整體和分體安裝

詳細介紹

概述

KX系列為通用型物位計用于連續物位的測量，產品應用于工礦現場，適用于大多數應用場合，儀表由一個電路單套防爆外殼和桿式或纜式傳感元件組成，傳感器有多種型號可選，儀表可選整體和分體安裝。用于連續測量。

測量原理

射頻導納物位控制技術是一種從電容式物位控制技術發展起來的、防掛料、更可靠、更準確、適用性更廣的物位控制技術，是電容物位計的技術升級，“射頻導納”中“導納”的含義為電學中阻抗的倒數，它由阻性成分、容性成分、感性成分綜合而成，而“射頻”即高額，所以射頻導納技術可以理解為用高頻測量導納。高頻正弦振蕩器輸出一個穩定的測量信號源，利用電橋原理，以精確測量安裝在待測容器中的傳感器上的導納，在直接作用模式下，儀表的輸出隨物位的升高而增加。

對一個強導電性物料的容器，由于物料是導電的，對變送器探頭來說僅表現為一個純電容，隨著容器排料，探桿上產生掛料，這樣便產生掛料誤差，且導電性越強誤誤差越大。從電學角度來看，掛料層相當于一個電阻，傳感元件被掛料覆蓋的部分相當于一條由無數個無窮小的電容和電阻元件組成部分的阻抗和容抗數值相等，因此用交流鑒相采樣器可以分別測量電容和電阻。測得的總電容相當于C物位+C掛料，再減去與C掛料相等的電阻R，就可以獲得物位真實值，從而排除掛料的影響。

即C測量=C物位+C 掛料

C物位=C測量-C掛料

=C測量-R

特點

通用性強:可測量液位及料位，可滿足不同溫度、壓力、介質的測量要求，并可應用于腐蝕、沖擊等惡劣場合。

防掛料:的電路設計和傳感器結構，使其測量可以不受傳感受器掛料影響，無需定期清詰，避免誤測量。

調試方便:采用了微處理器技術，產品調試及為方面，一鍵敲定，準確無誤。

抗干擾:接觸式測量，抗力強，可克服蒸氣、泡沫及攪拌對測量的影響。

免維護:測量過程無可動部件，不存在機械部件損壞問題，無須維護。

性能指標

供電:18-30VDC 電氣接口:M20× 1.5

輸出:4～20mA(兩線制) 安裝方式:一體、分體