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三高SANKO膜厚計SWT-7000III SWT-7200Ⅲ

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更新時間：2022-12-07 12:08:14瀏覽次數：152次

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深圳市安川測量儀器有限公司

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產品簡介

產品簡介：三高SANKO膜厚計SWT-7000III SWT-7200Ⅲ　SWT系列探頭可互換?！　　?兩用型 : FN-325　　　◆ 鐵材用 : Fe系列　　　　◆ 非鐵材 : NFe系列

詳細介紹

三高SANKO膜厚計SWT-7000III SWT-7200Ⅲ　

SWT系列探頭可互換?！?/span>

　◆ 兩用型 : FN-325　　

　◆ 鐵材用 : Fe系列　　　

　◆ 非鐵材 : NFe系列

SWT-7200Ⅲ　探頭可互換、保存、統計計算、數據傳送等的高功能機型

●可根據用途來選擇探頭。

●在LCD畫面上顯示操作的順序。

●大容量的測定值存儲器

（9200：20000個）

●設定的檢量線可簡單使用測量

●內存設置上下限值、統計演算功能。

●可連接USB向電腦進行數據的傳送。

用途

●涂層/襯層/鍍金

●耐酸層

規格

測量范圍連接探頭（另賣）

顯示方式 LCD畫面

檢量線校正 2點校正式

檢量線存儲　10根

測量值存儲 20000個

數據傳送 USB

電源單3電池（1.5V）×2

專用電源線

附帶自動關機功能

使用溫度 0～40C°

尺寸重量 72（W）×30（H）×156（D）mm

約200g

附屬品收納袋

專用電源線

USB連接線、USB軟件

探頭測量的底材金屬的不同進行選擇

·鐵底材用（Fe）

·非鐵底材用（NFe）

·鐵底材·非鐵底材兩用（FN-325）

(請參照專用探頭頁)

探測頭型號	FN-325
測量方式	電磁式·渦電流式兩用（鐵·非鐵底材自動識別）
測量范圍	鐵底材：0～3.00mm、非鐵底材：0～2.50mm
表示分辨率	1μm：0～999μm的切換（鐵·非鐵共通） 0.1μm：0～400μm（鐵·非鐵共通） 0.5μm：400～500μm（鐵·非鐵共通） 0.01mm:1.00～3.00mm（鐵底材） 0.01mm:1.00～2.50mm（非鐵底材）
測量精度（平滑表面）	0～100μm：:1μm（鐵·非鐵共通）或者是指示值的±2%以內 101μm～3.00mm:±2%以內（鐵底材） 101μm～2.50mm:±2%以內（非鐵底材）
探測部	1點定壓接觸式、V形切口、φ13×52mm、72g
選擇產品	V形探測頭套有3種（φ5以下用、φ5～10用、φ10～20用）
附屬品	標準校正板、試驗用零校正板、（鐵用·非鐵用）
測量對象	鐵底材：鐵·鋼等磁性金屬底材上的皮膜、襯層、噴涂膜、電鍍（電解鎳除外）等非鐵底材：鋁、銅等非磁性金屬底材上的絕緣皮膜等一般較普遍的測量物用

SWT-7000Ⅲ系列機型

機型	SWT-7000Ⅲ	SWT-7100Ⅲ		SWT-7200Ⅲ
測量范圍	連接的探測頭不同測量范圍也不同。
顯示方式	液晶顯示LCD（數據·提示信息）、背光燈
檢量線校正	2點校正方式（零校正、標準校正）
檢量線存儲	鐵、非鐵各1根			10根
測量值存儲	—			20,000點
數據傳送	—	USB		USB
統計功能	—	—		內藏
附加功能	●背光燈　　　●測量模式的切換（普通／連續）　　　●檢量線、校正值的刪除 ●自動關機功能（約3分以上不操作時，機器會自動關機）　●分辨率的切換　　 ●上下限值的設定（SWT-7200Ⅲ）
電源	單3電池 ×2		單3電池 ×2專用電源線
使用溫度	0～40C°（不結露）
機體尺寸·重量	72（W）×30（H）×156（D）mm、重量 210g
附屬品	干電池、收納袋子	干電池、收納袋子、電源線、USB線、USB軟件（CD）
追加產品	鐵材金屬用探測頭（Fe）、非鐵材金屬用探測頭（NFe）鐵·非鐵材用探測頭（FN-325）

SWT-7000Ⅲ系列的鐵材金屬用探測頭（1）（Fe）

型號	Fe-2.5/2.5L	Fe-2.5LwA	Fe-0.6Pem
測量方式	電磁感應式
測量范圍	0～2.50mm		0～600μm
表示分解率	1μm：0～999μm 切換 0.1μm：0～400μm 0.5μm：400～500μm 0.01mm:1.00～2.50mm		1μm：0～600μm 切換 0.1μm：0～400μm 0.5μm：400～500μm
測量精度（平滑面）	0～100μm:±1μm 又或者時顯示值的±2%以內 101μm～2.50mm：±2%		0～100μm:±1μm 又或者時顯示值的±2%以內 101μm～600μm：±2%
探測部	1點定壓接觸式 V形口套頭 2.5：φ13×48mm 2.5L:18×23×67mm	1點定壓接觸式測量部：約20×57mm 全長：約550～ 1.550mm （伸縮式）	1點定壓接觸式 Φ5.6×94mm
選擇產品	V形套頭/— （φ5以下用、φ5～10用、φ10～20用）	—	—
附屬品	標準校正片試驗用零校正板（鐵用）	標準校正片試驗用零校正板（鐵用）收納袋子	標準校正片試驗用零校正板（鐵用）
測量對象	鐵·鋼等的磁性金屬底材上的皮膜、襯層、噴涂層、電鍍層（電解鎳的電鍍層除外）等等	鐵·鋼等的磁性金屬底材是個的皮膜、襯層等等手不能進去、高的地方、有距離的地方的涂層厚度的測量。	鐵·鋼等磁性金屬底材上的涂層、襯層等狹小的地方、小的部位的涂層的膜厚測量。

SWT-7000Ⅲ系列的鐵材金屬用探測頭（2）（Fe）

型號	Fe-10	Fe-20
測量方式	電磁感應式
測量范圍	0～10mm	0～20mm
表示分解率	1μm：0～999μm 0.01mm:1～10mm	1μm：0～999μm 0.01mm:1～5mm 0.1mm:5～20mm
測量精度（平滑面）	0～3mm：±（5μm＋顯示值的3%） 3.01mm：顯示值的±3%
探測部	1點定壓接觸式 V形口套頭 φ18×47mm	1點定壓接觸式 V形口套頭 φ35×59mm
選擇產品	—	—
附屬品	標準校正片、試驗用零校正板（鐵用）
測量對象	鐵·鋼等磁性金屬底材的比較厚的涂層用	鐵·鋼等磁性金屬底材上的厚涂層用

探測頭要根據需要購買。

SWT-7000Ⅲ系列的非鐵材金屬用探測頭（NFe）

型號	NFe-2.0/NFe-2.0L	NFe-06	NFe-8
測量方式	渦電流式
測量范圍	0～2.00mm	0～600μm	0～8mm
表示分解率	1μm：0～999μm 切換 0.1μm：0～400μm 0.5μm：400～500μm 0.01mm:1.00～2.00mm	1μm：0～600μm 切換 0.1μm：0～400μm 0.5μm：400～500μm	1μm：0～999μm 0.01mm：1～8mm
測量精度（平滑表面）	0～100μm:±1μm 又或者時顯示值的 ±2%以內 101μm～2.00mm： ±2%以內	0～100μm:±1μm 又或者時顯示值的 ±2%以內 101μm～600μm： ±2%以內	0～100μm:±1μm ±（±1μm＋顯示值的±2%） 101μm～8mm： ±2%以內
探測部	1點定壓接觸式 V形口套頭 2.0：φ13×47mm 2.0L：18×23×67mm	1點定壓接觸式 V形口套頭 φ11×48mm	1點定壓接觸式 V形口套頭 φ35×61mm
選擇產品	V形套頭/-	－	－
附屬品	標準校正片、試驗用零校正板（非鐵用）
測量對象	鋁、銅等非磁性金屬底材上的絕緣性皮膜等一般普通測量物用。	鋁、銅等非磁性金屬底材上的絕緣性皮膜等細小的圓棒、細管、小物件等的高安定性用。	鋁、銅等非磁性金屬底材上的絕緣性皮膜等比較厚的測量物用。