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上海昊量光電設備有限公司
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自1998年以來，NT-MDT已成功地將AFM與光學顯微鏡和光譜技術相集成
自1998年以來，NT-MDT已成功地將AFM與光學顯微鏡和光譜技術相集成。支持包括HybriD ModeTM在內的30多種基本和AFM模式，可提供有關樣品表面物理性質的廣泛信息。 AFM與共焦/熒光顯微鏡的集成提供了有關樣品的更多信息。
相同的樣品區域同時測量的AFM和拉曼圖可提供有關樣品物理性質（AFM）和化學成分（Raman）的補充信息。
NTEGRA Spectra II借助增強拉曼散射（TERS），可以進行納米級分辨率的光譜學/顯微術。特制的AFM探針（納米天線）可用于TERS，以增強和定位附近納米級區域的光。
這種納米天線充當光的“納米源"，從而提供了光學成像的可能性，其分辨率小于衍射極限（max?10 nm）。掃描近場光學顯微鏡（SNOM）是獲得旋光性樣品的光學和光譜圖像的另一種方法，其分辨率受探針孔徑大小（?100 nm）限制。
NT-MDT 原子力顯微鏡系統光路圖
所有可能的激發/檢測和TERS的解決方案
應用
CdS納米線通過導電聚合物納米線與金屬電極連接。 AFM探針借助觀察顯微鏡定位在結構上。 由于AFM探針的形狀，激光可以直接定位在頂點上。
高分辨率AFM圖像可提供有關樣品形貌的信息。 從同一區域獲取的拉曼圖和發光圖顯示出納米線化學成分的差異。
光學圖片
原子力顯微鏡掃描圖 拉曼掃描圖 熒光掃描圖 拉曼譜
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